[发明专利]多层错位耦合准直器、辐射器、探测装置及扫描设备在审
| 申请号： | 201410512964.4 | 申请日： | 2014-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN105520741A | 公开（公告）日： | 2016-04-27 |
| 发明（设计）人： | 李延召;谢庆国 | 申请（专利权）人： | 武汉知微科技有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 430070 湖北省武汉市东湖新技术开发*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种多层错位耦合准直器，其包括若干个准直层，每个准直层上设有若干准直孔，至少有两个准直层相互间是错位耦合的。本发明提出的多层错位耦合准直器除了可以实现相较于单层准直器的性能的提升和多性能选择的功能外，还具有较好的加工可行性。由于将准直器分为多个准直层后，每个准直层厚度较薄，所以加工精度容易保证。 | ||
| 搜索关键词： | 多层 错位 耦合 准直器 辐射器 探测 装置 扫描 设备 | ||
【主权项】：
一种多层错位耦合准直器，其特征在于：其包括若干个准直层，每个准直层上设有若干准直孔，至少有两个准直层相互间是错位耦合的。
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