[发明专利]多层错位耦合准直器、辐射器、探测装置及扫描设备在审

专利信息
申请号: 201410512964.4 申请日: 2014-09-29
公开(公告)号: CN105520741A 公开(公告)日: 2016-04-27
发明(设计)人: 李延召;谢庆国 申请(专利权)人: 武汉知微科技有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 430070 湖北省武汉市东湖新技术开发*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 多层 错位 耦合 准直器 辐射器 探测 装置 扫描 设备
【权利要求书】:

1.一种多层错位耦合准直器,其特征在于:其包括若干个准直层,每个 准直层上设有若干准直孔,至少有两个准直层相互间是错位耦合的。

2.根据权利要求1所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所述若干 准直层的错位为相邻的准直层两两错位。

3.根据权利要求2所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所述错位 后的若干准直层中,奇数位的准直层位置重合,偶数位的准直层位置重合。

4.根据权利要求1所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所述若干 准直层的错位为将若干准直层按照顺序分割成若干小组,然后以小组为单位 进行组组错位。

5.根据权利要求4所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所述每个 小组的准直层的数量不尽相同。

6.根据权利要求4所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所述每个 小组的准直层的数量相同。

7.根据权利要求1所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所述若干 准直层的厚度不尽相同。

8.根据权利要求7所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所述最小 厚度与最大厚度的比值范围为1:1~1:11。

9.根据权利要求1所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所述若干 准直层的厚度相同。

10.根据权利要求1所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所有准 直层的位置均不能调整变动。

11.根据权利要求10所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所述准 直层上设有固定孔,所述准直层间通过螺丝与固定孔配合实现固定。

12.根据权利要求1所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:至少一 个所述准直层的位置是能调整变动的。

13.根据权利要求12所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所述准 直器设有导轨,所述准直层通过在导轨上滑动实现位置调整。

14.根据权利要求1所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所述若 干准直层的准直孔类型相同,所述多层错位耦合准直器的准直层类型为平行 孔准直器或汇聚型准直器或发散型准直器。

15.根据权利要求1所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所述准 直层的数量范围为2~30个。

16.根据权利要求1所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所述准 直层上的准直孔的形状为正方形,设定正方形的一组对边的方向为y方向, 另一组对边方向为z方向,准直孔的排列方式为在y方向和z方向平铺,呈正 方形网格式排列,所述准直层之间的错位在y方向和/或z方向,错位的结果 使得平行于孔方向对准直器进行投影所得方格图案的孔间距为准直层的孔间 距的1/2~1/M,M取值范围为2~N,N为准直层个数。

17.根据权利要求1所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所述准 直层上的准直孔的形状为正六边形,正六边形孔的排列方式为正三角形网格 式排列,错位后,前一个准直层上准直孔的中心和后一个准直层的六边形孔 的一个顶点的中心对齐。

18.根据权利要求1所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所述准 直层上的准直孔的形状为圆形或任意近似圆形的多边形,所述准直孔以正三 角形网格排列,错位后,前一个准直层的孔中心与后一个准直层上的一个点 对齐,该点处于两两相邻的三个孔所夹区域,该点到这三个孔的中心的距离 相等。

19.根据权利要求1所述的多层错位耦合准直器,其特征在于:所述准 直层上的准直孔的形状为圆形或任意近似圆形的多边形,所述准直孔以正方 形网格式排列,网格为正方形,网格中的每个格点对应着一个准直孔的中心, 设定正方形的一组对边的方向为y方向,另一组对边方向为z方向,所述准 直层之间的错位在y方向和/或z方向,所述错位大小为1/2孔间距。

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