[发明专利]用于单片堆叠集成电路测试的电路和方法有效
| 申请号： | 201410490077.1 | 申请日： | 2014-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN104515952B | 公开（公告）日： | 2017-09-29 |
| 发明（设计）人： | 桑迪·库马·戈埃尔;阿肖克·梅赫塔 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3187 | 分类号： | G01R31/3187;G01R31/3177 |
| 代理公司： | 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 | 代理人： | 章社杲,李伟 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种单片堆叠集成电路(IC)，该电路在它的其中一个上层中具有高良率层(KGL)测试电路和扫描段。该测试电路包括连接到扫描段并连接到IC的第二层的多个输入端、输出端和多路复用器。该测试电路还包括多个控制元件，使得堆叠IC的扫描测试可以在逐层的基础上进行。本发明涉及用于单片堆叠集成电路测试的电路和方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 单片 堆叠 集成电路 测试 电路 方法 | ||
【主权项】：
一种单片堆叠集成电路(IC)，包括：位于所述单片堆叠集成电路的第一层中的高良率层(KGL)测试电路和扫描段，其中，所述第一层是所述单片堆叠集成电路的上层，所述高良率层测试电路包括：第一测试输入端，连接至所述扫描段的输入端，以接收第一扫描移位数据；第一多路复用器，所述第一多路复用器具有第一数据输入端、第二数据输入端、第一选择输入端和第一数据输出端，其中，所述第一数据输入端连接到所述第一测试输入端，并且所述第二数据输入端连接到所述扫描段的输出端；第一测试输出端，连接到所述第一数据输出端，以将第二扫描移位数据传送到第二层；第二测试输入端，以从所述第二层接收第三扫描移位数据；第二多路复用器，所述第二多路复用器具有第三数据输入端、第四数据输入端、第二选择输入端和第二数据输出端，其中，所述第三数据输入端连接到所述第二测试输入端，并且所述第四数据输入端连接到所述第一数据输出端；第二测试输出端，连接到第二数据输出端，以传送第四扫描移位数据；第一控制元件，连接到所述第一选择输入端；以及第二控制元件，连接到所述第二选择输入端。
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