[发明专利]基于激光热应力成形的芯片引脚整形装置及方法有效

专利信息
申请号: 201410440423.5 申请日: 2014-08-29
公开(公告)号: CN104332428B 公开(公告)日: 2017-04-05
发明(设计)人: 王东平;吴志会;倪明阳;李显凌;杨怀江;隋永新 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/48
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所(普通合伙)22210 代理人: 刘慧宇
地址: 130033 吉*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 基于激光热应力成形技术的芯片引脚整形装置及方法,属于半导体领域,为了克服现有技术引脚校正后的一致性精度不易控制的缺陷,将芯片通过芯片夹具固定在芯片引脚整形装置上,使二维运动平台沿着图示y轴做扫描运动,通过传感器探头测量并获取各个芯片引脚的相对高度差,通过传感器控制器将测量结果传至计算机;调整聚焦激光在芯片引脚上的相对位置,使聚焦激光的扫描方向图示y轴方向平行;依据测得的各个芯片引脚的目标整形高度,通过计算机设定光纤激光器的激光功率和扫描速度,对引脚进行激光整形加工;通过传感器探头再次测量引脚的相对高度,计算机通过相应程序决定对当前引脚继续整形加工或对下一引脚进行整形,直至所有引脚满足公差要求。
搜索关键词: 基于 激光 应力 成形 芯片 引脚 整形 装置 方法
【主权项】:
基于激光热应力成形技术的芯片引脚整形装置,其特征是,包括激光热应力整形系统和非接触位移测量系统两部分;激光热应力整形系统包括二维运动平台(11)、芯片夹具(1)、激光扫描单元(4)和光纤激光器(6);芯片夹具(1)用于夹持芯片(9),且两者设置在二维运动平台(11)上;光纤激光器(6)发出的激光经过光纤(5)传输进入激光扫描单元(4)后做扫描运动,最终形成聚焦激光(3)投射在待整形的芯片引脚(2)上,对芯片引脚(2)做整形加工;非接触位移测量系统包括色差位移传感器探头(8)、传感器控制器(7)和计算机(10),传感器探头(8)在引脚整形加工前后测量芯片引脚(2)的高度变化并通过传感器控制器(7)将测量结果传至计算机(10),计算机(10)将测量结果与目标值比对后反馈给激光热应力整形系统进行下一轮整形加工,直至多次加工后芯片(9)的所有芯片引脚(2)高度差都调整在公差范围以内。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410440423.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top