[发明专利]电子元器件的电气特性测定装置在审
| 申请号： | 201410427803.5 | 申请日： | 2014-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN104459503A | 公开（公告）日： | 2015-03-25 |
| 发明（设计）人： | 吉田健治;赤穗贞广 | 申请（专利权）人： | 株式会社村田制作所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04;G01R1/06 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 金红莲 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及电子元器件的电气特性测定装置。其包括：第1测定端子16，该第1测定端子16与电子元器件的一方外部电极电连接，且与测定器M相连接；第2测定端子40，该第2测定端子40能与电子元器件的另一方外部电极相抵接，且与测定器M相连接；保持单元50，该保持单元50保持电子元器件，且与第1测定端子16电连接；搬运单元，该搬运单元将保持单元50搬运到与第2测定端子40相对的位置；移动单元，该移动单元使保持单元50向着第2测定端子40相对地移动，以使得电子元器件的另一方外部电极与第2测定端子40相抵接；及中继构件86，该中继构件86使第1测定端子16和保持单元50电连接，且能与保持单元50联动地在保持单元50的移动方向上移动。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元器件 电气 特性 测定 装置 | ||
【主权项】：
一种电子元器件的电气特性测定装置，该电子元器件的电气特性测定装置对贴片型的电子元器件的电气特性进行测定，在该贴片型的电子元器件的相互相对的一个主面侧和另一个主面侧的至少一部分上分别形成有一方外部电极和另一方外部电极，该电子元器件的电气特性测定装置的特征在于，包含：第1测定端子，该第1测定端子与所述一方外部电极电连接，且与测定所述电气特性的测定器相连接；第2测定端子，该第2测定端子能与所述另一方外部电极相抵接，且与所述测定器相连接；保持单元，该保持单元保持所述电子元器件，并且能与所述第1测定端子电连接；搬运单元，该搬运单元将所述保持单元搬运到使由所述保持单元所保持的所述电子元器件与所述第2测定端子相对的位置；移动单元，该移动单元使所述保持单元向着所述第2测定端子相对地移动，以使得所述电子元器件的所述另一方外部电极与所述第2测定端子相抵接；以及中继构件，该中继构件能与由所述移动单元来移动的保持单元联动地在所述保持单元的移动方向上移动，且使所述第1测定端子和所述保持单元电连接。
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