[发明专利]一种X射线衍射增量法测定固化产物中3BS、4BS含量的方法在审
| 申请号： | 201410401477.0 | 申请日： | 2014-08-14 |
| 公开（公告）号： | CN104237272A | 公开（公告）日： | 2014-12-24 |
| 发明（设计）人： | 万南红;代少振;徐丹 | 申请（专利权）人： | 超威电源有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 杭州杭诚专利事务所有限公司 33109 | 代理人： | 尉伟敏 |
| 地址： | 313100 浙江*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种X射线衍射增量法测定固化产物中3BS、4BS含量的方法，所述方法是用X射线衍射法检测待测产物中组分1、组分2的衍射谱线强度，然后增加组分1的含量，通过X射线衍射法检测增加组分1含量后的组分1、组分2的衍射谱线强度，通过多晶衍射谱线强度公式得出固化产物中组分2的质量分数本发明具有定性分析简便，定量分析精确，误差1-4.3％，为难以确定测定固化产物中3BS、4BS含量提供了一种简单快捷、准确有效的检测方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 衍射 增量 测定 固化 产物 bs 含量 方法 | ||
【主权项】：
一种X射线衍射增量法测定固化产物中3BS、4BS含量的方法，其特征在于，所述方法是用X射线衍射法检测待测产物中组分1、组分2的衍射谱线强度，然后增加组分1的含量，通过X射线衍射法检测增加组分1含量后的组分1、组分2的衍射谱线强度，通过多晶衍射谱线强度公式得出固化产物中组分2的质量分数。
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