[发明专利]红外焦平面阵列的盲元检测方法与装置在审
| 申请号: | 201410381228.X | 申请日: | 2014-08-05 |
| 公开(公告)号: | CN104330164A | 公开(公告)日: | 2015-02-04 |
| 发明(设计)人: | 吴明军;郑逢勋;赵新亮;马向华;陈峥 | 申请(专利权)人: | 凯迈(洛阳)测控有限公司 |
| 主分类号: | G01J5/02 | 分类号: | G01J5/02 |
| 代理公司: | 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 | 代理人: | 胡泳棋 |
| 地址: | 471003 河南*** | 国省代码: | 河南;41 |
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| 摘要: | 本发明涉及一种红外焦平面阵列的盲元检测方法与装置,用以解决的现有盲元检测方法稳定性差问题。本发明在判断盲元时,利用基于均匀背景的红外图像的灰度值近似于正态分布的特性,以像元为中心加窗、计算。这种方案的准确率较差,通过研究,我们发现这是由于噪声干扰造成的。因此,在此基础上,每次采集一帧探测器原始图像,在时域范围内对计算结果进行统计判断,通过设定证据阈值有效地避免因噪声引起的错误盲元检测,提高检测准确率。 | ||
| 搜索关键词: | 红外 平面 阵列 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
红外焦平面阵列的盲元检测方法,其特征在于,步骤如下:1)初始化步骤:红外系统上电并且遮挡光路;2)逐次采集步骤:每次采集一帧探测器原始图像数据It,t当前为采集次数;3)每次采集后进行的处理步骤:每次采集后,依次对每个像元为中心进行加窗,计算该像元设定范围邻域内像元的局部均值μlocal以及局部标准差σlocal,如果该像元与局部均值μlocal之差大于三倍局部标准差σlocal,则对该像元进行对应计数;4)盲元判断步骤:采集T次后,统计像元的对应计数值,若其对应计数值大于设定阈值,则判定为盲元。
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