[发明专利]红外焦平面阵列的盲元检测方法与装置在审
| 申请号: | 201410381228.X | 申请日: | 2014-08-05 |
| 公开(公告)号: | CN104330164A | 公开(公告)日: | 2015-02-04 |
| 发明(设计)人: | 吴明军;郑逢勋;赵新亮;马向华;陈峥 | 申请(专利权)人: | 凯迈(洛阳)测控有限公司 |
| 主分类号: | G01J5/02 | 分类号: | G01J5/02 |
| 代理公司: | 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 | 代理人: | 胡泳棋 |
| 地址: | 471003 河南*** | 国省代码: | 河南;41 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 红外 平面 阵列 检测 方法 装置 | ||
1.红外焦平面阵列的盲元检测方法,其特征在于,步骤如下:
1)初始化步骤:红外系统上电并且遮挡光路;
2)逐次采集步骤:每次采集一帧探测器原始图像数据It,t当前为采集次数;
3)每次采集后进行的处理步骤:每次采集后,依次对每个像元为中心进行加窗,计算该像元设定范围邻域内像元的局部均值μlocal以及局部标准差σlocal,如果该像元与局部均值μlocal之差大于三倍局部标准差σlocal,则对该像元进行对应计数;
4)盲元判断步骤:采集T次后,统计像元的对应计数值,若其对应计数值大于设定阈值,则判定为盲元。
2.根据权利要求1所述的红外焦平面阵列的盲元检测方法,其特征在于,步骤3)中,同时,对原始图像数据It进行叠加;步骤4)中,对叠加T次的原始图像数据,对每个像元求平均,并计算全局均值μglobal以及全局标准差σglobal,对于与全局均值μglobal的差值大于三倍全局标准差σglobal的像元,也判定为盲元。
3.根据权利要求1或2所述的红外焦平面阵列的盲元检测方法,其特征在于,设置时域证据图像即Ev用于对像元进行对应计数;时域证据图像的初值Ev(i,j)=0,Ev(i,j)中,i,j为像元坐标;当像元与局部均值μlocal之差大于三倍局部标准差σlocal时,将该像元时域证据图像在相应位置加1。
4.根据权利要求1或2所述的红外焦平面阵列的盲元检测方法,其特征在于,设置时域平均图像Em(i,j)用于原始图像的叠加,时域平均图像的初值Em(i,j)=0,Em(i,j)中,i,j为像元坐标;每次采集后,将当前采集到的原始图像叠加到时域平均图像。
5.根据权利要求1所述的红外焦平面阵列的盲元检测方法,其特征在于,所述局部均值μlocal与局部标准差σlocal的具体计算公式为:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于凯迈(洛阳)测控有限公司,未经凯迈(洛阳)测控有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410381228.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:具有压电性能的道路发电装置
- 下一篇:一种硫酸盐蔗渣浆绿色漂白方法





