[发明专利]晶圆切割定位装置及方法在审
申请号: | 201410371365.5 | 申请日: | 2014-07-30 |
公开(公告)号: | CN105321863A | 公开(公告)日: | 2016-02-10 |
发明(设计)人: | 邹武兵;张德安;段家露;曾波;余猛 | 申请(专利权)人: | 深圳市韵腾激光科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68;B28D5/00;B28D7/04 |
代理公司: | 北京联瑞联丰知识产权代理事务所(普通合伙) 11411 | 代理人: | 王丹凤 |
地址: | 518000 广东省深圳市宝*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明公开了一种晶圆切割定位装置,该晶圆切割定位装置包括装置本体、控制组件、CCD检测结构、装设于所述装置本体上并与所述CCD检测结构相配合的线性运动结构机构、装设于所述线性运动机构上的真空吸附结构,所述真空吸附结构包括装设于所述线性运动结构上的用于对所述晶圆进行吸平的真空陶瓷吸盘,所述线性运动结构可相对于装置本体沿X、Y轴来回移动,所述真空陶瓷吸盘可相对于装置本体做圆周转动。该晶圆切割定位装置工作效率高、能精确地调整待切割晶圆的各个方向的位置、精度高、全自动运行,对晶圆切割的位置进行准确定位,切割出来的晶圆芯片均匀、美观。本发明还公开了一种晶圆切割定位方法。 | ||
搜索关键词: | 切割 定位 装置 方法 | ||
【主权项】:
晶圆切割定位装置,其特征在于:包括装置本体、容置于所述装置本体内的控制组件、装设于所述装置本体上的用于对所述晶圆的切割位置进行检测的CCD检测结构、装设于所述装置本体上并与所述CCD检测结构相配合的线性运动结构机构、装设于所述线性运动机构上的真空吸附结构,所述真空吸附结构包括装设于所述线性运动结构上的用于对所述晶圆进行吸平的真空陶瓷吸盘,所述线性运动结构可相对于装置本体沿X、Y轴来回移动,所述真空陶瓷吸盘可相对于装置本体做圆周转动。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
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