[发明专利]X波段准光腔材料的测定方法及其介电常数测量方法有效
| 申请号： | 201410367101.2 | 申请日： | 2014-07-29 |
| 公开（公告）号： | CN104155527B | 公开（公告）日： | 2017-05-17 |
| 发明（设计）人： | 张娜;成俊杰;张国华;高春彦;杨初 | 申请（专利权）人： | 北京无线电计量测试研究所 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司11257 | 代理人： | 张文祎 |
| 地址： | 100854 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开一种X波段准光腔材料的测定方法，该测定方法包括如下步骤1)根据准光腔腔体材质或镀层材质确定趋肤深度；2)根据准光腔品质因数和趋肤深度Q确定腔长D取值范围；3)根据准光腔曲率因子和本征谱线纯度确定球面镜曲率半径R取值范围；4)确定准光腔球面镜口径A1为350mm；5)确定准光腔平面镜直径A2为250mm；6)确定准光腔的信号耦合性，所述准光腔的球面镜顶端与耦合波导的底端固定连接。该测量方法简单便捷，测量准确度较高。 | ||
| 搜索关键词： | 波段 准光腔 材料 测定 方法 及其 介电常数 测量方法 | ||
【主权项】：
X波段准光腔材料的测定方法，其特征在于，该测定方法包括如下步骤：1)根据准光腔腔体材质或镀层材质确定趋肤深度；2)根据准光腔品质因数和趋肤深度Q确定腔长D取值范围；3)根据准光腔曲率因子和本征谱线纯度确定球面镜曲率半径R取值范围；4)确定准光腔球面镜口径A1为350mm；5)确定准光腔平面镜直径A2为250mm；6)确定准光腔的信号耦合性，所述准光腔的球面镜顶端与耦合波导的底端固定连接使得所述球面镜中心位置的球顶位于所述耦合波导上且与所述耦合波导成为一体，所述耦合波导的两个耦合孔中间切割出0.5mm的缝隙，该缝隙与输入和输出两个波导口间的波导壁焊接。
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