[发明专利]估计器件引入的噪声的方法和装置有效
| 申请号： | 201410363645.1 | 申请日： | 2014-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN104422828B | 公开（公告）日： | 2019-05-21 |
| 发明（设计）人： | R.T.卡特勒 | 申请（专利权）人： | 是德科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/26 | 分类号： | G01R29/26 |
| 代理公司： | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人： | 封新琴 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本文公开了测量DUT的性质的装置和方法，该DUT通过将输入信号施加于该DUT的信号增益和该DUT引入的DUT噪声谱来表征。该装置包括第一和第二测量通道和控制器。该第一和第二测量通道通过对于不同通道相互不同的增益和噪声谱来表征，生成第一和第二测量信号。当将输入信号施加于该DUT的输入时，该控制器测量第一和第二测量信号的乘积的平均值，该控制器提供独立于第一和第二测量通道中的噪声谱、该DUT的输出的信噪比的度量。四通道实施例减少了测量DUT的增益和噪声谱所需的校准的次数。 | ||
| 搜索关键词： | 第二测量 噪声谱 控制器 信号施加 测量 方法和装置 估计器件 信号增益 四通道 信噪比 校准 引入 度量 噪声 输出 | ||
【主权项】：
1.一种测量第一DUT的装置，所述第一DUT通过第一DUT输入、第一DUT输出、第一DUT信号增益和该第一DUT引入的第一DUT噪声谱来表征，所述装置包含：第一测量通道，所述第一测量通道生成通过第一增益和该通道引入的第一噪声谱表征的第一测量信号，所述第一测量通道与所述第一DUT输出耦合；第二测量通道，所述第二测量通道生成通过第二增益和该通道引入的第二噪声谱表征的第二测量信号，所述第二测量通道与所述第一DUT输出耦合；以及控制器，当将输入信号施加于所述第一DUT输入时，所述控制器测量所述第一测量信号和所述第二测量信号的频谱的叉积的平均值，所述控制器提供从所述第一DUT输出输出的信号的信噪比的度量，所述度量独立于所述第一噪声谱和所述第二噪声谱。
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