[发明专利]估计器件引入的噪声的方法和装置

权利要求书

1.一种测量第一DUT的装置，所述第一DUT通过第一DUT输入、第一DUT输出、第一DUT信号增益和该第一DUT引入的第一DUT噪声谱来表征，所述装置包含：

第一测量通道，所述第一测量通道生成通过第一增益和该通道引入的第一噪声谱表征的第一测量信号，所述第一测量通道与所述第一DUT输出耦合；

第二测量通道，所述第二测量通道生成通过第二增益和该通道引入的第二噪声谱表征的第二测量信号，所述第二测量通道与所述第一DUT输出耦合；以及

控制器，当将输入信号施加于所述第一DUT输入时，所述控制器测量所述第一测量信号和所述第二测量信号的频谱的叉积的平均值，所述控制器提供从所述第一DUT输出输出的信号的信噪比的度量，所述度量独立于所述第一噪声谱和所述第二噪声谱。

2.如权利要求1所述的装置，进一步包含：

第三测量通道，所述第三测量通道生成通过第三增益和该通道引入的第三噪声谱表征的第三测量信号，所述第三测量通道与所述第一DUT输入耦合；以及

第四测量通道，所述第四测量通道生成通过第四增益和该通道引入的第四噪声谱表征的第四测量信号，所述第四测量通道与所述第一DUT输入耦合，其中

当将输入信号施加于所述第一DUT输入时，所述控制器测量所述第三和第四测量信号的频谱的叉积的平均值，两个交叉平均值包含所述第一或第二测量信号之一的频谱与所述第三或第四测量信号之一的频谱的叉积的平均值，所述控制器提供独立于所述第一、第二、第三和第四噪声谱和独立于使用不同DUT的任何单独校准测量的来自所述第一DUT输出的输出信号的信噪比的度量。

3.如权利要求2所述的装置，其中当所述第一DUT被第二DUT取代时，所述第二DUT包含到所述第二DUT的输入与所述第二DUT的输出之间的短路，所述控制器测量所述第三和第四测量信号的频谱的叉积的平均值，以及其中所述装置进一步包含测量来自所述第二DUT的输出功率的功率计，所述控制器从对所述第一DUT的所述测量和对所述第二DUT的所述测量中生成所述第一DUT信号增益的度量和所述第一DUT噪声谱的度量。

4.如权利要求1所述的装置，包含使用具有已知噪声谱的输入信号确定包含所述叉积的所述平均值的第一校准乘积，将所述第一校准乘积用于生成所述第一DUT的信噪比测量。

5.如权利要求4所述的装置，包含使用第二DUT确定包含所述第一测量信号和所述第二测量信号的所述叉积的所述平均值的第二校准乘积，所述第二DUT包含短路所述第二DUT的输入和所述第二DUT的输出的直通连接，将所述第二校准乘积用于生成所述第一DUT信号增益和所述第一DUT噪声谱的测量。

6.如权利要求1所述的装置，其中所述第一噪声谱和所述第二噪声谱包含相互关联的分量，以及所述控制器对所述平均值提供校正所述分量的校正值。

7.如权利要求6所述的装置，其中所述校正值通过用第二DUT取代所述第一DUT来确定，在所述第二DUT中将所述第二DUT的输入与所述第二DUT的输出短路。

8.一种操作装置以测量第一DUT的方法，所述第一DUT通过第一DUT输入、第一DUT输出、第一DUT信号增益和该第一DUT引入的第一DUT噪声谱来表征，所述方法包含：

生成通过第一增益和第一测量通道引入的第一噪声谱表征的第一测量信号，所述第一测量通道与所述第一DUT输出耦合；

生成通过第二增益和第二测量通道引入的第二噪声谱表征的第二测量信号，所述第二测量通道与所述第一DUT输出耦合；

当将输入信号施加于所述第一DUT输入时，使所述装置测量所述第一测量信号和所述第二测量信号的频谱的叉积的平均值；以及

提供从所述第一DUT输出输出的信号的信噪比的度量，所述度量独立于所述第一噪声谱和所述第二噪声谱。

9.如权利要求8所述的方法，包含使用具有已知噪声谱的输入信号确定包含所述叉积的所述平均值的第一校准乘积，将所述第一校准乘积用于生成所述第一DUT的信噪比测量。