[发明专利]一种电子设备及信息处理方法有效
| 申请号： | 201410353929.2 | 申请日： | 2014-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN105333954B | 公开（公告）日： | 2017-12-29 |
| 发明（设计）人： | 张振华;尚可 | 申请（专利权）人： | 联想（北京）有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/12 | 分类号： | G01J3/12;G01J3/30;G02F1/01 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司11270 | 代理人： | 张振伟,张颖玲 |
| 地址： | 100085*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种电子设备及光处理方法，为缩小电子设备的体积而设计。所述电子设备，包括光检测单元及与处理单元；所述光检测单元包括光子晶体层，所述光子晶体层能依据向所述光子晶体层施加的电压，对第一入射光中的第一波长的光进行反射和透射；感光层，位于所述光子晶体层的透光侧，所述感光层用于在所述光子晶体层对所述第一波长的光进行反射时，检测所述光子晶体层透射的第一透射光的第一参数；及在所述光子晶体层对所述第一波长的光进行透射时，检测所述光子晶体层透射的第二透射光的第二参数；所述处理单元与所述光检测单元相连；其中，所述处理单元用于根据所述第一参数及所述第二参数形成所述第一波长的光谱。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子设备 信息处理 方法 | ||
【主权项】：
一种电子设备，包括光检测单元及与处理单元；所述光检测单元包括：光子晶体层，所述光子晶体层能依据向所述光子晶体层施加的电压，对第一入射光中的第一波长的光进行反射和透射；感光层，位于所述光子晶体层的透光侧，所述感光层用于在所述光子晶体层对所述第一波长的光进行反射时，检测所述光子晶体层透射的第一透射光的第一参数；及在所述光子晶体层对所述第一波长的光进行透射时，检测所述光子晶体层透射的第二透射光的第二参数；所述处理单元与所述光检测单元相连；其中，所述处理单元用于根据所述第一参数及所述第二参数形成所述第一波长的光谱；其中，所述第一参数用于直接或间接表征所述第一透射光的光强；所述第二参数用于直接或间接表征所述第二透射光的光强。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联想（北京）有限公司，未经联想（北京）有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410353929.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
