[发明专利]一种电子设备及信息处理方法

权利要求书

1.一种电子设备，包括光检测单元及与处理单元；

所述光检测单元包括：

光子晶体层，所述光子晶体层能依据向所述光子晶体层施加的电压，对第一入射光中的第一波长的光进行反射和透射；

感光层，位于所述光子晶体层的透光侧，所述感光层用于在所述光子晶体层对所述第一波长的光进行反射时，检测所述光子晶体层透射的第一透射光的第一参数；及在所述光子晶体层对所述第一波长的光进行透射时，检测所述光子晶体层透射的第二透射光的第二参数；

所述处理单元与所述光检测单元相连；其中，所述处理单元用于根据所述第一参数及所述第二参数形成所述第一波长的光谱；

其中，所述第一参数用于直接或间接表征所述第一透射光的光强；所述第二参数用于直接或间接表征所述第二透射光的光强。

2.根据权利要求1所述的电子设备，其特征在于，

所述光检测单元还包括光扩散层；其中，所述光扩散层用于使以大于第一角度入射到所述光检测单元的所述第一入射光入射到所述光子晶体层上。

3.根据权利要求2所述的电子设备，其特征在于，

所述光扩散层还用于使所述第一入射光均匀入射到所述光子晶体层上。

4.根据权利要求1、2或3所述的电子设备，其特征在于，

所述光检测单元还包括的光束定向层；

所述光束定向层用于选择向第一方向传输的所述第一入射光。

5.根据权利要求1、2或3所述的电子设备，其特征在于，

所述光检测单元还包括第一透明电极层和第二透明电极层；

所述光子晶体层位于所述第一透明电极层和所述第二透明电极层之间；

其中，所述第一透明电极层和所述第二透明电极层用于向所述光子晶体层施加电压。

6.根据权利要求5所述的电子设备，其特征在于，

所述第一透明电极层包括M个第一透明电极；

所述第二透明电极层包括M个第二透明电极；

所述光子晶体层包括M个区域；

第m个第一透明电极与第m个第二透明电极组成可独立控制的第m个电极组；

所述第m个第一透明电极与所述第m个第二透明电极在所述光子晶体层上的垂直投影位于所述光子晶体层的第m区域；

其中，所述第m个电极组用于向所述第m区域施加电压；

所述M为不小于2的整数；所述m为不大于所述M的正整数。

7.根据权利要求1、2或3所述的电子设备，其特征在于，

所述处理单元，用于依据所述第二参数与所述第一参数的差值，确定所述第一波长的光的第三光强，并依据所述第三光强确定所述第一波长的光谱。

8.根据权利要求7所述的电子设备，其特征在于，

所述处理单元，还用于依据所述光谱确定所述电子设备所处环境的色温值。

9.根据权利要求8所述的电子设备，其特征在于，

所述电子设备还包括显示单元；

所述显示单元与所述处理单元相连；其中，所述处理单元还用于依据所述色温值确定所述显示单元的输出参数，并依据所述输出参数控制所述显示单元的显示。

10.一种光处理方法，应用于包括光检测单元的电子设备中，所述光检测单元至少包括光子晶体层；

向所述光子晶体层施加第一电压；

所述光子晶体层接收第一入射光，反射所述第一入射光中的第一波长的光且形成第一透射光；

检测所述第一透射光的第一参数；

向所述光子晶体层施加第二电压；

所述光子晶体层接收所述第一入射光，透射所述第一入射光中的所述第一波长的光且形成第二透射光；

检测所述第二透射光的第二参数；

根据所述第一参数和所述第二参数，形成所述第一波长的光谱；

其中，所述第一参数用于直接或间接表征所述第一透射光的光强；所述第二参数用于直接或间接表征所述第二透射光的光强。

11.根据权利要求10所述的方法，其特征在于，

所述光检测单元还包括光扩散层；

所述方法还包括：

通过所述光扩散层使以大于第一角度入射到所述光检测单元的所述第一入射光入射到所述光子晶体层上。