[发明专利]半导体装置及其测试方法在审
| 申请号： | 201410338473.2 | 申请日： | 2014-07-16 |
| 公开（公告）号： | CN104299653A | 公开（公告）日： | 2015-01-21 |
| 发明（设计）人： | 田边哲也;宫崎真裕 | 申请（专利权）人： | 拉碧斯半导体株式会社 |
| 主分类号： | G11C29/12 | 分类号： | G11C29/12 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 闫小龙;王忠忠 |
| 地址： | 日本神奈*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及一种半导体存储器及其测试方法。在测试模式时，测试数据生成部在由写入期间和读出期间构成的每个测试周期生成测试数据片，期望值寄存器导入该测试数据片，将其作为期望值数据片送出。存储器单元驱动部在写入期间将写入驱动信号供给到多个存储器单元阵列部，在读出期间将读出驱动信号供给到多个存储器单元阵列部。此时，数据中继开关在写入期间将测试数据片供给到多个存储器单元阵列部的每一个，另一方面，在读出期间导入从多个存储器单元阵列部的每一个读出的每个读出数据片而进行输出。然后，判定部判定由上述数据中继开关导入的每个读出数据片与期望值数据片是否一致，生成示出该判定结果的测试结果信号。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体装置，包括：多个存储器单元阵列部；以及测试电路部，对所述存储器单元阵列部实施自诊断测试，所述半导体装置的特征在于，所述测试电路部具有：测试数据生成部，在由写入期间和读出期间构成的每个测试周期生成测试数据片；期望值寄存器，导入所述测试数据片进行存储，将其作为期望值数据片送出；存储器单元驱动部，在所述写入期间将使数据写入的写入驱动信号供给到多个所述存储器单元阵列部，在所述读出期间将读出数据的读出驱动信号供给到多个所述存储器单元阵列部；数据中继开关，在所述测试周期的所述写入期间将所述测试数据片供给到多个所述存储器单元阵列部的每一个，另一方面，在所述读出期间导入从多个所述存储器单元阵列部的每一个读出的每个读出数据片而进行输出；以及判定部，判定从所述数据中继开关输出的每个所述读出数据片与所述期望值数据片是否一致，生成示出该判定结果的测试结果信号。
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