[发明专利]半导体装置及其测试方法在审
申请号: | 201410338473.2 | 申请日: | 2014-07-16 |
公开(公告)号: | CN104299653A | 公开(公告)日: | 2015-01-21 |
发明(设计)人: | 田边哲也;宫崎真裕 | 申请(专利权)人: | 拉碧斯半导体株式会社 |
主分类号: | G11C29/12 | 分类号: | G11C29/12 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 闫小龙;王忠忠 |
地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 装置 及其 测试 方法 | ||
1.一种半导体装置,包括:多个存储器单元阵列部;以及测试电路部,对所述存储器单元阵列部实施自诊断测试,所述半导体装置的特征在于,
所述测试电路部具有:
测试数据生成部,在由写入期间和读出期间构成的每个测试周期生成测试数据片;
期望值寄存器,导入所述测试数据片进行存储,将其作为期望值数据片送出;
存储器单元驱动部,在所述写入期间将使数据写入的写入驱动信号供给到多个所述存储器单元阵列部,在所述读出期间将读出数据的读出驱动信号供给到多个所述存储器单元阵列部;
数据中继开关,在所述测试周期的所述写入期间将所述测试数据片供给到多个所述存储器单元阵列部的每一个,另一方面,在所述读出期间导入从多个所述存储器单元阵列部的每一个读出的每个读出数据片而进行输出;以及
判定部,判定从所述数据中继开关输出的每个所述读出数据片与所述期望值数据片是否一致,生成示出该判定结果的测试结果信号。
2.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,
所述测试数据片、所述期望值数据片、以及所述读出数据片的每一个是由第1~第n比特构成的数据片,其中,n是2以上的整数,
所述测试数据生成部经由由n根线构成的数据总线将所述测试数据片中的第1~第n比特供给到所述数据中继开关,
所述判定部包括:
一致电路,通过对同一比特位彼此进行所述读出数据片与所述期望值数据片是否一致的一致判定,从而按第1~第n的各比特位的每一个生成示出一致判定的结果的一致判定信号;
第1逻辑门,对与多个所述存储器单元阵列部的每一个对应的多个所述一致判定信号,对同一比特位彼此求取逻辑与,将按各比特位的每一个示出所述逻辑与的结果的第1~第n比特一致判定信号送出到所述数据总线;以及
第2逻辑门,求取所述数据总线上的所述第1~第n比特一致判定信号的逻辑与,将该逻辑与结果作为所述测试结果信号生成。
3.根据权利要求1所述的半导体装置,其特征在于,
所述期望值数据片和所述读出数据片的每一个是由第1~第n比特构成的数据片,其中,n是2以上的整数,
所述测试数据生成部生成由第1~第p比特构成的所述测试数据片,经由由p根线构成的数据总线将该测试数据片供给到所述数据中继开关,其中,p是n/2以下的整数。
4.一种半导体装置的测试方法,在包括多个存储器单元阵列部的半导体装置的内部对所述存储器单元阵列部实施自诊断测试,其特征在于,
在由写入期间和读出期间构成的每个测试周期生成测试数据片,并且将所述测试数据片作为期望值数据片生成,
在所述测试周期的所述写入期间将所述测试数据片同时写入到多个所述存储器单元阵列部的每一个,
在所述读出期间从多个所述存储器单元阵列部的每一个同时进行所述测试数据片的读出而分别得到读出数据片,
生成示出每个所述读出数据片与所述期望值数据片是否一致的测试结果信号。
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