[发明专利]一种半导体器件及其制造方法、电子装置有效
申请号: | 201410322525.7 | 申请日: | 2014-07-08 |
公开(公告)号: | CN105244311B | 公开(公告)日: | 2018-09-21 |
发明(设计)人: | 张先明;何作鹏 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768;H01L23/538 |
代理公司: | 北京市磐华律师事务所 11336 | 代理人: | 董巍;高伟 |
地址: | 201203 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种半导体器件及其制造方法、电子装置,所述方法包括:提供半导体衬底,在半导体衬底中形成硅通孔;在硅通孔中依次形成绝缘层、粘连层和铜导电层;对铜导电层实施预处理,以释放铜导电层内部的应力并使晶粒充分长大;执行化学机械研磨直至露出硅通孔的顶部。根据本发明,可以避免形成于硅通孔中的铜导电层在后续实施的工艺过程中发生凸起和层离现象,确保其与互连线的良好接触。 | ||
搜索关键词: | 一种 半导体器件 及其 制造 方法 电子 装置 | ||
【主权项】:
1.一种半导体器件的制造方法,包括:提供半导体衬底,在所述半导体衬底中形成硅通孔;在所述硅通孔中依次形成绝缘层、粘连层和铜导电层;对所述铜导电层实施预处理,以释放所述铜导电层内部的应力并使晶粒充分长大;执行化学机械研磨直至露出所述硅通孔的顶部,所述预处理包括依次实施的两步退火处理,第一步退火处理为仅对所述铜导电层自身实施的激光热退火,以使所述铜导电层的晶粒充分长大,避免在后续实施第二步退火处理时所述铜导电层发生凸起现象。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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