[发明专利]一种氢钝化氧化锌基薄膜晶体管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201410310520.2 申请日: 2014-07-01
公开(公告)号: CN104037234A 公开(公告)日: 2014-09-10
发明(设计)人: 廖蕾;许磊;刘兴强;刘传胜 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786;H01L21/34;C23C14/35;C23C14/08
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 张火春
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种氢钝化氧化锌基薄膜晶体管是以氢等离子体钝化处理的掺杂钛或镁的氧化锌基半导体材料为沟道层。其制法为以生长有二氧化硅的重掺杂P型硅片为基底,对Ti或Mg与氧化锌的复合靶材进行射频磁控溅射,同时通过第一次掩膜沉积在基底上形成小块的掺杂Ti或Mg的氧化锌薄膜层;原位氢等离子体处理;在原位氢等离子体处理的氧化锌基薄膜层上采用直流溅射,第二次掩膜沉积制备Al电极,即得氢钝化氧化锌基薄膜晶体管。其优点是:本发明提供的氢钝化氧化锌基薄膜晶体管具有电子迁移率较高、电学稳定性好,开关比高等优点;制备方法的工艺简单,成本低,可通过氢钝化时间和掺杂物的含量来调节器件的阈值电压。
搜索关键词: 一种 钝化 氧化锌 薄膜晶体管 及其 制备 方法
【主权项】:
一种氢钝化氧化锌基薄膜晶体管,其特征在于:以氢等离子体钝化处理的掺杂钛或镁的氧化锌基半导体材料为沟道层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉大学,未经武汉大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410310520.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top