[发明专利]定义多晶硅生长方向的方法有效

专利信息
申请号: 201410294517.6 申请日: 2014-06-25
公开(公告)号: CN104037066B 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 余威;王烨文;李泳锐 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/02 分类号: H01L21/02;H01L21/20
代理公司: 深圳市德力知识产权代理事务所44265 代理人: 林才桂
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种定义多晶硅生长方向的方法,包括步骤1、提供一玻璃基板(1);步骤2、在玻璃基板(1)上形成一缓冲层(3);步骤3、在缓冲层(3)上形成一金属膜层(5);步骤4、对金属膜层(5)进行蚀刻,形成金属膜阵列(51);步骤5、在缓冲层(3)上覆盖一层高纯度的石英掩膜(7);步骤6、在高纯度石英掩膜(7)与金属膜阵列(51)上形成一石墨烯层(9);步骤7、对石墨烯层(9)进行蚀刻,形成石墨烯层阵列(91);步骤8、在缓冲层(3)上生长非晶硅薄膜(2);步骤9、对非晶硅薄膜(2)进行高温去氢处理;步骤10、对非晶硅薄膜(2)进行ELA准分子激光退火处理;步骤11、熔化后的非晶硅进行重结晶。
搜索关键词: 定义 多晶 生长 方向 方法
【主权项】:
一种定义多晶硅生长方向的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、提供一玻璃基板(1),并将该玻璃基板(1)清洗干净;步骤2、在玻璃基板(1)上形成一缓冲层(3);步骤3、在缓冲层(3)上形成一金属膜层(5);步骤4、使用酸性液体对金属膜层(5)进行蚀刻,形成金属膜阵列(51);步骤5、在缓冲层(3)上除金属膜阵列(51)以外的区域覆盖一层高纯度的石英掩膜(7),露出金属膜阵列(51);步骤6、在高纯度石英掩膜(7)与金属膜阵列(51)上形成一完全覆盖所述石英掩膜(7)和金属膜阵列(51)的石墨烯层(9);步骤7、对石墨烯层(9)进行蚀刻,同时蚀刻掉覆盖在所述缓冲层(3)上的石英掩膜(7),形成与步骤4中金属膜阵列(51)重合的石墨烯层阵列(91);步骤8、在具有有金属膜阵列(51)和石墨烯层阵列(91)的缓冲层(3)上生长非晶硅薄膜(2);步骤9、对非晶硅薄膜(2)进行高温去氢处理;步骤10、对非晶硅薄膜(2)进行ELA准分子激光退火处理,非晶硅薄膜(2)吸收激光的能量后温度升高直至熔融状态;步骤11、熔化后的非晶硅进行重结晶,以金属膜阵列(51)与石墨烯层阵列(91)构成的低温区为起点向四周高温区域生长变大形成多晶硅;所述金属膜阵列(51)与石墨烯层阵列(91)的位置设置在沟道附近。
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