[发明专利]定义多晶硅生长方向的方法有效
申请号: | 201410294517.6 | 申请日: | 2014-06-25 |
公开(公告)号: | CN104037066B | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 余威;王烨文;李泳锐 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/20 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种定义多晶硅生长方向的方法,包括步骤1、提供一玻璃基板(1);步骤2、在玻璃基板(1)上形成一缓冲层(3);步骤3、在缓冲层(3)上形成一金属膜层(5);步骤4、对金属膜层(5)进行蚀刻,形成金属膜阵列(51);步骤5、在缓冲层(3)上覆盖一层高纯度的石英掩膜(7);步骤6、在高纯度石英掩膜(7)与金属膜阵列(51)上形成一石墨烯层(9);步骤7、对石墨烯层(9)进行蚀刻,形成石墨烯层阵列(91);步骤8、在缓冲层(3)上生长非晶硅薄膜(2);步骤9、对非晶硅薄膜(2)进行高温去氢处理;步骤10、对非晶硅薄膜(2)进行ELA准分子激光退火处理;步骤11、熔化后的非晶硅进行重结晶。 | ||
搜索关键词: | 定义 多晶 生长 方向 方法 | ||
【主权项】:
一种定义多晶硅生长方向的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、提供一玻璃基板(1),并将该玻璃基板(1)清洗干净;步骤2、在玻璃基板(1)上形成一缓冲层(3);步骤3、在缓冲层(3)上形成一金属膜层(5);步骤4、使用酸性液体对金属膜层(5)进行蚀刻,形成金属膜阵列(51);步骤5、在缓冲层(3)上除金属膜阵列(51)以外的区域覆盖一层高纯度的石英掩膜(7),露出金属膜阵列(51);步骤6、在高纯度石英掩膜(7)与金属膜阵列(51)上形成一完全覆盖所述石英掩膜(7)和金属膜阵列(51)的石墨烯层(9);步骤7、对石墨烯层(9)进行蚀刻,同时蚀刻掉覆盖在所述缓冲层(3)上的石英掩膜(7),形成与步骤4中金属膜阵列(51)重合的石墨烯层阵列(91);步骤8、在具有有金属膜阵列(51)和石墨烯层阵列(91)的缓冲层(3)上生长非晶硅薄膜(2);步骤9、对非晶硅薄膜(2)进行高温去氢处理;步骤10、对非晶硅薄膜(2)进行ELA准分子激光退火处理,非晶硅薄膜(2)吸收激光的能量后温度升高直至熔融状态;步骤11、熔化后的非晶硅进行重结晶,以金属膜阵列(51)与石墨烯层阵列(91)构成的低温区为起点向四周高温区域生长变大形成多晶硅;所述金属膜阵列(51)与石墨烯层阵列(91)的位置设置在沟道附近。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市华星光电技术有限公司,未经深圳市华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410294517.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:组合式水槽
- 下一篇:一种用于变压器的钒基铁氧体磁芯材料
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造