[发明专利]时间序列形式的传感数据的不良图案检验方法及其装置有效
| 申请号： | 201410261840.3 | 申请日： | 2014-06-12 |
| 公开（公告）号： | CN104238543B | 公开（公告）日： | 2018-02-27 |
| 发明（设计）人： | 申启荣;安大中;徐大弘;郑宇永 | 申请（专利权）人： | 三星SDS株式会社 |
| 主分类号： | G05B23/02 | 分类号： | G05B23/02 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司11018 | 代理人： | 康泉,宋志强 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种能够检验由传感器测量的时间序列形式的传感数据的不良图案的装置及方法。本发明的时间序列形式的传感数据的不良图案检验方法包括以下步骤获得适用于可疑传感器的时间序列形式的传感数据的不良图案信息；访问在检验对象期间由所述可疑传感器生成的各产品的时间序列形式的传感数据；按各产品计算根据所述不良图案信息的不良图案与所述时间序列形式的传感数据之间的相似度；基于所述相似度计算所述不良图案的错误率。 | ||
| 搜索关键词： | 时间 序列 形式 传感 数据 不良 图案 检验 方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种时间序列形式的传感数据的不良图案检验方法，包括以下步骤：获得适用于由可疑传感器测量的时间序列形式的传感数据的不良图案信息；访问各产品的时间序列形式的传感数据，该传感数据是在检验对象期间由所述可疑传感器生成的故障检测与分类数据；按各产品计算根据所述不良图案信息的不良图案与所述时间序列形式的传感数据之间的相似度；以及基于所述相似度和各产品的不良判断信息来计算对所述不良图案的可靠度进行数值化的所述不良图案的错误率。
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