[发明专利]SOC芯片功能测试系统及方法有效
| 申请号： | 201410239712.9 | 申请日： | 2014-05-30 |
| 公开（公告）号： | CN105446843B | 公开（公告）日： | 2019-02-15 |
| 发明（设计）人： | 李洪兵 | 申请（专利权）人： | 展讯通信（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/26 | 分类号： | G06F11/26 |
| 代理公司： | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人： | 俞涤炯 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区张*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本申请记载了一种SOC芯片功能测试系统及方法，涉及电子通信技术领域，通过在SOC芯片中设置直读模块，使得功能测试序列的产生和调试的复杂度得到几何级别的降低，且在大大降低了芯片测试成本的同时，还有效的提高了测试效率，从而使得功能测试操作成为一种简单易用且高效低成本的测试方法，以使得其能够在SOC芯片的测试中得到大规模的应用。 | ||
| 搜索关键词： | soc 芯片 功能 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种SOC芯片功能测试系统，其特征在于，所述系统包括：自动测试设备和SOC芯片，且所述SOC芯片中设置有直读模块、集成存储模块和启动CPU；所述自动测试设备中存储有功能测试代码数据；所述直读模块通过第一端口与所述自动测试设备连接，以读取所述功能测试代码数据；所述直读模块通过第二端口与所述集成存储模块连接，以采用数据包的方式将读取的所述功能测试代码数据存储至所述集成存储模块中；所述启动CPU通过第三端口与所述集成存储模块连接，以读取所述集成存储模块存储的数据；所述直读模块与所述启动CPU的复位信号输入端连接，以控制所述启动CPU的复位状态。
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