[发明专利]采用新型掺杂方式的PERT晶体硅太阳电池的制作方法无效

专利信息
申请号: 201410219825.2 申请日: 2014-05-23
公开(公告)号: CN103996744A 公开(公告)日: 2014-08-20
发明(设计)人: 夏正月;高艳涛;崔会英;钱亮;何锐;陈同银;刘仁中;董经兵;张雪;谢烜;张斌;邢国强 申请(专利权)人: 奥特斯维能源(太仓)有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 刘燕娇
地址: 215434 江苏省苏州*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种采用新型掺杂方式的PERT晶体硅太阳电池的制作方法,包括硅片单面制绒,清洗;正面沉积磷硅玻璃;背面沉积硼硅玻璃;高温退火,正面形成n+掺杂层,背面形成p+掺杂层;等离子刻边;清洗去除硅片表面残留的磷硅玻璃和硼硅玻璃;背面单面沉积氧化铝/氮化硅叠层膜;正面沉积氮化硅减反射膜;背面局部打开薄膜,露出硼掺杂层;背面印刷背电极和铝层,正面印刷银栅线;烧结,测试。本发明步骤简单、易于操作,是一种可量产高效晶硅太阳能电池的制备方法,其主要特点为在商业化的工业设备基础上,充分利用目前企业生产线已具备的常规电池生产设备,充分减少设备投资,且不增加电池每瓦制造成本。
搜索关键词: 采用 新型 掺杂 方式 pert 晶体 太阳电池 制作方法
【主权项】:
一种采用新型掺杂方式的PERT晶体硅太阳电池的制作方法,其特征在于:包括以下步骤:(1)硅片单面制绒,清洗:选择P型硅片,对选择的P型硅片的一面在碱液下进行表面绒面化,然后在酸性条件下进行化学清洗,除去表面杂质;(2)正面沉积磷硅玻璃:在硅片的正面沉积5‑500nm的磷硅玻璃层;(3)背面沉积硼硅玻璃:在硅片的背面沉积10‑400nm的硼硅玻璃层;(4)高温退火,正面形成n+掺杂层,背面形成p+掺杂层:在高温炉中对硅片进行退火共扩散,使硅片的正面形成n+掺杂层,背面形成p+掺杂层;(5)等离子刻边;(6)清洗去除硅片表面残留的磷硅玻璃和硼硅玻璃;(7)背面单面沉积氧化铝/氮化硅叠层膜;(8)正面沉积氮化硅减反射膜;(9)背面局部打开薄膜,露出硼掺杂层:背面进行金属化接触,具体采用激光在背面局部打开薄膜,露出硼掺杂层,进行局域硅铝接触;(10)背面印刷背电极和铝层,正面印刷银栅线;(11)烧结,测试。
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