[发明专利]一种基于AAQFN的二次曝光和二次塑封的封装件及其制作工艺在审
| 申请号: | 201410203970.1 | 申请日: | 2014-05-14 |
| 公开(公告)号: | CN104037093A | 公开(公告)日: | 2014-09-10 |
| 发明(设计)人: | 李涛涛;崔梦 | 申请(专利权)人: | 华天科技(西安)有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/48 | 分类号: | H01L21/48;H01L21/56;H01L21/50 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 710018 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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| 摘要: | 本发明公开了一种基于AAQFN的二次曝光和二次塑封的封装件及其制作工艺。封装件主要由引线框架、下芯片、上芯片、胶膜、键合线、上塑封体、下塑封体、绿油和植球组成。所述引线框架上焊接有下芯片,下芯片通过胶膜与上芯片粘接,键合线连接上芯片和引线框架,上塑封体包围了引线框架的部分、下芯片、上芯片、胶膜和键合线,所述引线框架间填充有绿油,引线框架连接有植球,下塑封体包围了引线框架的部分、绿油和植球的部分。所述制作工艺如下:晶圆减薄→划片→上芯→压焊→一次塑封→后固化→印刷感光油墨→曝光显影→引脚分离→去膜→刷绿油→曝光显影→植球→贴膜→二次塑封→揭膜。该发明显著提高了封装件的可靠性,且此法易行,生产效率高。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 基于 aaqfn 二次 曝光 塑封 封装 及其 制作 工艺 | ||
【主权项】:
一种基于AAQFN的二次曝光和二次塑封的封装件,其特征在于:主要由引线框架(1)、焊球(2)、下芯片(3)、上芯片(4)、胶膜(5)、键合线(6)、上塑封体(7)、下塑封体(12)、绿油(9)和植球(10)组成;所述引线框架(1)上通过焊球(2)焊接在下芯片(3)上,下芯片(3)通过胶膜(5)与上芯片(4)粘接,键合线(6)连接上芯片(4)和引线框架(1),上塑封体(7)包围了引线框架(1)的部分、下芯片(3)、上芯片(4)、胶膜(5)和键合线(6),所述引线框架(1)间填充有绿油(9),引线框架(1)连接有植球(10),下塑封体(12)包围了引线框架(1)的部分、绿油(9)和植球(10)的部分。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





