[发明专利]一种DRAM双芯片堆叠封装结构和封装方法无效

专利信息
申请号: 201410199594.3 申请日: 2014-05-13
公开(公告)号: CN103943615A 公开(公告)日: 2014-07-23
发明(设计)人: 孟新玲;隋春飞;刘昭麟;户俊华;栗振超 申请(专利权)人: 山东华芯半导体有限公司
主分类号: H01L25/065 分类号: H01L25/065;H01L23/492;H01L21/60
代理公司: 济南泉城专利商标事务所 37218 代理人: 丁修亭
地址: 250101 山东省济南市高新*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种DRAM双芯片堆叠封装结构和封装方法,两芯片中的一个直接倒装在基板上,另一个则贴装在前一个芯片上,所需要的工艺步骤减少,且倒装和键合的工艺难度都不高,整体的工艺难度降低,切不需要做焊点再分布,从而大大降低了封装成本。另一方面,工艺上的简单化,容易保证产品良率和生产效率。另外,该结构相比于既有的结构厚度减小,适用性更强。
搜索关键词: 一种 dram 芯片 堆叠 封装 结构 方法
【主权项】:
一种DRAM双芯片堆叠封装结构,其特征在于,包括:基板(1),设有基板电路并具有第一面和与该第一面相对的第二面;第一芯片(3),正面朝向基板(1)而倒装于所述基板(1);第二芯片(5),背面贴装于所述第一芯片的背面,并通过引线(6)与所述基板(1)键合;以及封装体(2),用于将基板(1)、第一芯片(3)以及第二芯片(5)封装为一体。
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