[发明专利]适用于片上系统的扫描测试控制电路有效

专利信息
申请号: 201410186205.3 申请日: 2014-05-05
公开(公告)号: CN103983912B 公开(公告)日: 2017-07-11
发明(设计)人: 王金城 申请(专利权)人: 三星半导体(中国)研究开发有限公司;三星电子株式会社
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京铭硕知识产权代理有限公司11286 代理人: 王兆赓
地址: 215021 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 公开一种适用于片上系统的扫描测试控制电路。所述片上系统包括多个电源门控模块和多个非电源门控模块,所述扫描测试控制电路包括与所述多个电源门控模块对应的多个二选一电路,每个二选一电路的第一输入端接收电源门控信号,第二输入端接收扫描测试模式的电源门控信号,控制端接收扫描模式信号,输出端连接到电源门控模块的门控晶体管的栅极;多个屏蔽电路,每个屏蔽电路连接在一个电源门控模块和一个非电源门控模块之间,选择性地输出0或1。
搜索关键词: 适用于 系统 扫描 测试 控制电路
【主权项】:
一种适用于片上系统的扫描测试控制电路,所述片上系统包括多个电源门控模块和多个非电源门控模块,所述扫描测试控制电路包括:与所述多个电源门控模块对应的多个二选一电路,每个二选一电路的第一输入端接收电源门控信号,第二输入端接收扫描测试模式的电源门控信号,控制端接收扫描模式信号,输出端连接到电源门控模块的门控晶体管的栅极;多个屏蔽电路,每个屏蔽电路连接在一个电源门控模块和一个非电源门控模块之间,选择性地输出0或1,其中,当扫描模式信号为0时,电源门控模块处于非扫描测试状态,并且二选一电路将电源门控信号输出到电源门控模块的门控晶体管的栅极,以使门控晶体管根据电源门控信号导通或截止;当扫描模式信号为1时,电源门控模块处于扫描测试状态,并且二选一电路将扫描测试模式的电源门控信号输出到电源门控模块的门控晶体管的栅极,以使门控晶体管根据扫描测试模式的电源门控信号导通或截止,其中,在同时测试的电源门控模块之间不设置屏蔽电路。
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