[发明专利]存储器的编程校验方法和编程校验装置在审
| 申请号： | 201410171942.6 | 申请日： | 2014-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN105097030A | 公开（公告）日： | 2015-11-25 |
| 发明（设计）人： | 胡洪;王林凯 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C16/10 | 分类号： | G11C16/10 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 苏培华 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种存储器的编程校验方法和编程校验装置，以解决编程校验结果不准确的问题。所述的方法包括：发送执行编程校验的数据读取指令，其中数据读取指令用于从选中存储单元中读取数据；依据数据读取指令，所述存储器的电压生成模块为选中存储单元提供预设正电压，并为与选中存储单元在同一位线上的其他存储单元均提供设定负电压，以降低所述其他存储单元的漏电流；存储器的读取放大器读取位线的实际电流；将实际电流与预设电流进行比较，依据比较结果确定所述选中存储单元的编程校验成功与否。降低了所述其他存储单元的漏电流，使得位线上的实际电流更加接近选中存储单元产生的电流，确保编程校验的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 编程 校验 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种存储器的编程校验方法，其特征在于，包括：发送执行编程校验的数据读取指令，其中所述数据读取指令用于从选中存储单元中读取数据；依据所述数据读取指令，所述存储器的电压生成模块为所述选中存储单元提供预设正电压，并为与所述选中存储单元在同一位线上的其他存储单元均提供设定负电压，以降低所述其他存储单元的漏电流；所述存储器的读取放大器读取所述位线的实际电流；将所述实际电流与预设电流进行比较，依据比较结果确定所述选中存储单元的编程校验成功与否。
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