[发明专利]检查装置在审
| 申请号: | 201410138336.4 | 申请日: | 2014-04-08 |
| 公开(公告)号: | CN104101797A | 公开(公告)日: | 2014-10-15 |
| 发明(设计)人: | 寺岛隆幸;斋藤信幸 | 申请(专利权)人: | 日置电机株式会社 |
| 主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
| 代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 宋俊寅 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | 本发明提供一种检查装置,能更可靠地将未来有可能变成不满足关于规定物理量的产品规格的状态的检查对象判定为不良品。设置在搬送装置(3)的测定平台(ST1、ST2)上来对电阻(2)的电阻值(R)进行测定的测定装置(4、5)中的测定装置(4)对本身测定到的一个电阻(2)的电阻值(R)是否包含在基准范围内进行判定,将该判断数据D1发送到处理装置(7),并将该电阻值(R)发送到测定装置(5)。测定装置(5)对本身测定到的该一个电阻(2)的电阻值(R)是否包含在基准范围内进行判定,并将该判断数据(D1)发送到处理装置(7),并对从测定装置(4)接收到的一个电阻(2)的电阻值(R)与本身测定到的该一个电阻(2)的电阻值(R)的差分值(ΔR)是否包含在基准差分范围内进行判定,并将该判断数据D2发送到处理装置(7)。处理装置(7)基于各判断数据(D1)和判断数据(D2)来判定电阻(2)的质量。 | ||
| 搜索关键词: | 检查 装置 | ||
【主权项】:
一种检查装置,其特征在于,该检查装置执行以下处理:差分值比较处理,该差分值比较处理将以不同时刻对同一检查对象的同一物理量进行测定得到的两个测定值之间的差分值与预先规定的基准差分范围进行比较,并判定该差分值是否包含在该基准差分范围内;以及判定处理,该判定处理在该差分值包含在该基准差分范围内时将所述检查对象判定为良品,并在该差分值未包含在该基准差分范围内时将所述检查对象判定为不良品。
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