[发明专利]检查装置

说明书

技术领域

本发明涉及基于在不同的时刻对同一检查对象的同一物理量进行测定而得到的两个测定值来检测该检查对象的质量的检查装置。

背景技术

本发明申请人已提出了下述专利文献1所公开的质量判断装置作为这种检查装置。该质量判断装置包括：搬送检查对象（例如电容器）的带式输送机；沿着带式输送机对检查对象的搬送方向而规定的两个测定平台（第一测定平台以及第二测定平台）上所设置的两个检查装置；以及处理装置。

在该质量判断装置中，各检查装置依次测定由带式输送机搬送并位于各个测定平台的检查对象的同一物理量（例如在检查对象为电容器时为静电电容值），并且将测定到的物理量与预先设定的同一判断用基准值（对质量的范围进行规定的上限电容值和下限电容值）进行比较，从而对检查对象的质量进行检查。各检查装置将该检查的结果输出到处理装置。处理装置输入并储存从各检查装置输出的检查结果，并基于各检查装置对同一检查对象的检查结果，当各检查装置的检查结果均为良品时，判断该检查对象最终为良品，其它情况下（即，各检查装置的检查结果的至少一个为不良品时），判断该检查对象最终为不良品。

根据该质量判断装置，能对同一检查对象（一个检查对象）执行双重检查（二次检查）。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本专利特开2011－59049号公报(第5-9页、第1图)

发明内容

发明所要解决的技术问题

然而，上述质量判断装置中存在如下需要改善的问题。即，在检查对象中，存在着因检查装置测定物理量时施加的测定用信号（例如测定电压）而引起物理量产生变化的检查对象。可以认为这种检查对象是由于制造不良等原因而产生，存在物理量在市场上流通的状态、或最终由用户使用的状态下物理量产生变化的情况（即，物理量在出厂后产生变化的情况），可能在未来变为不满足检查对象应当满足的对于该物理量的产品规格的状态。因此，这种检查对象原本就应判断为不良品。

然而，即使是这种应当判断为不良品的检查对象，由于第一个检查装置施加测定用信号所引起的物理量的变化程度，会存在第二个检查装置所测定到的物理量满足判断用基准值的情况。这种情况下，上述质量判断装置中，两个检查装置中的对于检查对象的物理量均满足判断用基准值，从而将上述检查对象判断为良品。因此，上述质量判断装置存在如下需要改善的问题：难以将如下这种检查对象判断为不良品，即，在市场上流通的状态、或在最终由用户使用的状态下，物理量有可能会产生变化，从而检查对象在未来变成不满足对于该物理量的产品规格的状态

本发明是为了解决上述问题而完成的，其主要目的在于提供一种检查装置，能更准确地将在未来有可能变为不满足对于规定物理量的产品规格的状态的检查对象判断为不良品。

解决技术问题所采用的技术方案

为实现上述目的，权利要求1所述的检查装置执行以下处理：差分值比较处理，该差分值比较处理将以不同时刻对同一检查对象的同一物理量进行测定得到的两个测定值之间的差分值与预先规定的基准差分范围进行比较，并判定该差分值是否包含在该基准差分范围内；以及判定处理，该判定处理在该差分值包含在该基准差分范围内时将所述检查对象判定为良品，并在该差分值未包含在该基准差分范围内时将所述检查对象判定为不良品。

权利要求2所述的检查装置执行以下处理：测定值比较处理，该测定值比较处理将以不同时刻对同一检查对象的同一物理量进行测定得到的两个测定值与对每个该测定值预先规定的基准范围进行比较，并判定该各个测定值是否均包含在该基准范围内；差分值比较处理，该差分值比较处理将所述两个测定值之间的差分值与预先规定的基准差分范围进行比较，并判定该差分值是否包含在该基准差分范围内；以及判定处理，该判定处理在所述两个测定值均包含在所述基准范围内、且所述差分值包含在所述基准差分范围内时将所述检查对象判定为良品，在其它情况下将所述检查对象判定为不良品。