[发明专利]存储单元以及其制作方法有效
申请号: | 201410119334.0 | 申请日: | 2014-03-27 |
公开(公告)号: | CN104952875B | 公开(公告)日: | 2019-07-09 |
发明(设计)人: | 邱意珊;王献德;陈震;张原祥;张志谦;杨建军;塔威 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/11524 | 分类号: | H01L27/11524;H01L29/423 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种存储单元以及其制作方法。存储单元包含一基底、一栅极介电层、一图案物质层、一选择栅极以及一控制栅极。栅极介电层设置在基底。图案物质层设置在基底上且包含一水平部分以及一垂直部分。选择栅极设置在基底且位于垂直部分的一侧。控制栅极设置在水平部分上且位于垂直部分的另一侧。图案物质层的垂直部分突出于选择栅极的顶部。本发明提供了另外一种存储单元的实施方式以及其制作方法。 | ||
搜索关键词: | 存储单元 基底 选择栅极 物质层 垂直 栅极介电层 控制栅极 图案 制作 部分突出 | ||
【主权项】:
1.一种存储单元,包含:基底;栅极介电层,设置在该基底上;L型的图案物质层,设置在该基底上,其中该图案物质层包含一垂直部分以及一水平部分;选择栅极,设置在该栅极介电层上且位于该图案物质层的该垂直部分的一侧;以及控制栅极,设置在该水平部分上,且位于该垂直部分的另外一侧,其中该垂直部分整体突出于该控制栅极的顶部以及该选择栅极的顶部。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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