[发明专利]压力传感器及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201410112136.1 申请日: 2014-03-24
公开(公告)号: CN103900740A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 杨天伦;毛剑宏 申请(专利权)人: 上海丽恒光微电子科技有限公司
主分类号: G01L1/14 分类号: G01L1/14;G01L9/12;B81C1/00
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 201203 上海市浦东新区张江*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种压力传感器及其制造方法,包括步骤:提供半导体基板,其中内嵌有层叠排列的CMOS电路、互连电路以及底部电极板,半导体基板暴露所述底部电极板外围的互连电路;在所述半导体基板上底部电极板的对应位置形成牺牲层;在所述牺牲层及所述半导体基板上形成压力感应层;去除所述牺牲层,所述压力感应层和半导体基底围成一个空腔;在所述压力感应层上形成压力传导层,其位于空腔的上方;其中,所述压力感应层的形成步骤包括:在牺牲层上形成锗硅-非晶硅-锗硅的叠层结构。相比于现有技术:压力感应层利用了复合叠层结构从而可以减小其中的应力,并且利用了多层的叠层结构,这样使得每一层相同材质的膜层厚度减小,从而应力大大降低,提高了器件的性能。
搜索关键词: 压力传感器 及其 制造 方法
【主权项】:
一种压力传感器的制造方法,其特征在于,包括步骤:提供半导体基板,其中内嵌有层叠排列的CMOS电路、互连电路以及底部电极板,半导体基板暴露所述底部电极板外围的互连电路;在所述半导体基板上底部电极板的对应位置形成牺牲层;在所述牺牲层及所述半导体基板上形成压力感应层;去除所述牺牲层,所述压力感应层和半导体基底围成一个空腔;在所述压力感应层上形成压力传导层,其位于空腔的上方;其中,所述压力感应层的形成步骤包括:在牺牲层上形成锗硅‑非晶硅‑锗硅的叠层结构。
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