[发明专利]一种无针痕测试方法有效
申请号: | 201410111467.3 | 申请日: | 2014-03-24 |
公开(公告)号: | CN103869212A | 公开(公告)日: | 2014-06-18 |
发明(设计)人: | 左青松;向鹏;杨杰;刘俊;黄概 | 申请(专利权)人: | 广州杰赛科技股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02;G01R1/04 |
代理公司: | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝传鑫 |
地址: | 510310 广东省广*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种无针痕测试方法,包括:在第一非导电载体、第二非导电载体上分别设置导电胶,各所述导电胶分别与检测电路连接;将所述第一非导电载体的导电胶接触待检测电路板的顶层线路,将所述第二非导电载体的导电胶接触所述待检测电路板的底层线路;其中,所述顶层线路和底层线路处于所述待检测电路板的同一网络上;根据所述检测电路提供的检测指示,确定所述待检测电路板的检测结果。采用本发明技术方案采用面与面的接触方式代替点与面的接触,解决电路板测试中的针痕问题,实现无损伤测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 无针痕 测试 方法 | ||
【主权项】:
一种无针痕测试方法,其特征在于,包括:在第一非导电载体、第二非导电载体上分别设置导电胶,各所述导电胶分别与检测电路连接;将所述第一非导电载体的导电胶接触待检测电路板的顶层线路,将所述第二非导电载体的导电胶接触所述待检测电路板的底层线路;其中,所述顶层线路和底层线路处于所述待检测电路板的同一网络上;根据所述检测电路提供的检测指示,确定所述待检测电路板的检测结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于广州杰赛科技股份有限公司,未经广州杰赛科技股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410111467.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。