[发明专利]一种提高光谱角填图精度的阈值选取方法有效

专利信息
申请号: 201410099909.7 申请日: 2014-03-18
公开(公告)号: CN103927538B 公开(公告)日: 2017-05-10
发明(设计)人: 黄艳菊;张杰林 申请(专利权)人: 核工业北京地质研究院
主分类号: G06K9/46 分类号: G06K9/46
代理公司: 核工业专利中心11007 代理人: 闫兆梅
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于遥感信息科学技术领域,具体公开一种提高光谱角填图精度的阈值选取方法获取目标影像纯净端元波谱曲线;对端元波谱曲线分类,构建每类地物的波谱曲线集合;计算不同种类的地物之间光谱角弧度相似值;获取地物两两之间光谱角弧度相似值集合的最大值;根据光谱角弧度相似值集合的最大值,获取地物的提取阈值的上限值;计算同类别地物光谱角弧度相似值;根据同类别地物光谱角弧度相似值,获取每类地物弧度相似值集合的最小值;根据每类地物弧度相似值集合的最小值,获取地物的提取阈值的下限值;比较上限值和下限值的大小,选择提取阈值,保证地物信息提取的准确性和完整性。该方法能够保证目标影像地物信息提取的准确性和完整性。
搜索关键词: 一种 提高 光谱 角填图 精度 阈值 选取 方法
【主权项】:
一种提高光谱角填图精度的阈值选取方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:步骤1,获取目标影像地物的纯净端元波谱曲线;步骤2,根据波谱曲线的形态和特征位置,对上述步骤1中获取的目标影像地物的纯净端元波谱曲线进行分类,确定目标影像的地物种类数,并构建每类目标影像地物的波谱曲线集合;步骤3,利用光谱分析工具,分别计算不同种类的目标影像地物A、B、C之间光谱角弧度相似值rad,其中,rad(A,B)、rad(A,C)、rad(B,C)分别表示A和B、A和C、B和C三类目标影像两类地物之间光谱角弧度相似值集合;步骤4,获取上述步骤3中A和B、A和C、B和C三类目标影像地物两两之间的光谱角弧度相似值集合rad(A,B)、rad(A,C)、rad(B,C)的最大值δAB、δAC、δBC;步骤5,根据上述步骤4中得到的光谱角弧度相似值集合的最大值δAB、δAC、δBC,获取目标影像地物A、B、C的提取阈值Athreshold、Bthreshold、Cthreshold的上限值Athresholdmax、Bthresholdmax、Cthresholdmax;所述的步骤5中的Athresholdmax、Bthresholdmax、Cthresholdmax的具体公式分别如下:Athresholdmax=1‑Max(δAB,δAC)Bthresholdmax=1‑Max(δAB,δBC)Cthresholdmax=1‑Max(δAC,δBC);步骤6,利用光谱分析工具,计算同类别目标影像地物光谱角弧度相似值rad(A,A)、rad(B,B)、rad(C,C);步骤7:根据上述步骤6中得到的同类别目标影像地物光谱角弧度相似值rad(A,A)、rad(B,B)、rad(C,C),获取每类目标影像地物光谱角弧度相似值集合的最小值βAA、βBB、βCC;步骤8,根据上述步骤7中得到的每类目标影像地物光谱角弧度相似值集合的最小值βAA、βBB、βCC,获取目标影像地物A、B、C的提取阈值Athreshold、Bthreshold、Cthreshold的下限值Athresholdmin、Bthresholdmin、Cthresholdmin;所述的步骤8中的Athresholdmin、Bthresholdmin、Cthresholdmin的具体公式分别如下:Athresholdmin=1‑βAABthresholdmin=1‑βBBCthresholdmin=1‑βCC;步骤9:比较上述步骤5中得到的提取阈值上限值Athresholdmax、Bthresholdmax、Cthresholdmax和上述步骤8中得到的下限值Athresholdmin、Bthresholdmin、Cthresholdmin的大小,从而选择提取阈值,保证目标影像地物信息提取的准确性和完整性。
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