[发明专利]标本检查装置无效

专利信息
申请号: 201410085601.7 申请日: 2014-03-10
公开(公告)号: CN104048972A 公开(公告)日: 2014-09-17
发明(设计)人: 中山人司 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G01N21/89 分类号: G01N21/89
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李洋;舒艳君
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种在对载置于输送部上的标本照射太赫兹波并检测透过标本的太赫兹波时,能够减少输送部对透过标本的太赫兹波造成的影响的标本检查装置。标本检查装置(100)包括:具有载置作为被检查物的标本(2)的输送面(10a)并以能够输送标本的方式构成的输送部(10)、位于输送部的输送面侧并产生太赫兹波的太赫兹波产生部(20)、和位于与输送部的输送面相反的一侧的面(10b)侧并检测从太赫兹波产生部射出并透过载置于输送面的标本的太赫兹波的太赫兹波检测部(30),输送部具有连通输送面和与输送面相反的一侧的面的孔部(12),以能够在孔部上载置标本的方式构成。
搜索关键词: 标本 检查 装置
【主权项】:
一种标本检查装置,其特征在于,包括:输送部,其具有载置作为被检查物的标本的输送面,以能够输送所述标本的方式构成;太赫兹波产生部,其位于所述输送部的所述输送面侧,产生太赫兹波;以及太赫兹波检测部,其位于所述输送部的与所述输送面相反的一侧的面侧,检测从所述太赫兹波产生部射出并透过载置于所述输送面的所述标本的太赫兹波,所述输送部具有连通所述输送面以及与所述输送面相反的一侧的面的孔部,以能够在所述孔部上载置所述标本的方式构成。
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