[发明专利]标本检查装置

说明书

技术领域

本发明涉及标本检查装置。

背景技术

近年来，作为具有100GHz～30THz频率的电磁波的太赫兹波备受瞩目。太赫兹波可以用于成像、光谱测量等各种测量、非破坏检查等。

例如在专利文献1中，将药剂（标本）载置于作为用于输送药剂的输送部的包装用板上并输送到药剂检查装置，药剂检查装置对包装板上的药剂照射太赫兹波，检测透过药剂的太赫兹波，检查药剂中是否含有异物。

专利文献1：国际公开第2008/1785号

发明内容

然而，像专利文献1中记载的标本检查装置那样，在检测透过标本的太赫兹波时，有时包装用板会吸收太赫兹波，太赫兹波衰减。另外，即便使包装用板为对太赫兹波透明的物质，有时也会在包装用板内引起多重反射，降低检测精度。

本发明的几个方式的目的之一在于提供一种在对载置于输送部上的标本照射太赫兹波并检测透过标本的太赫兹波时，能够减少输送部对透过标本的太赫兹波造成的影响的标本检查装置。

本发明涉及的标本检查装置包括：

输送部，其具有载置作为被检查物的标本的输送面，以能够输送上述标本的方式构成；

太赫兹波产生部，其位于上述输送部的上述输送面侧，产生太赫兹波；和

太赫兹波检测部，其位于上述输送部的与上述输送面相反的一侧的面侧，检测从上述太赫兹波产生部射出并透过了载置于上述输送面的上述标本的太赫兹波，

上述输送部具有连通上述输送面和与上述输送面相反的一侧的面的孔部，以能够在上述孔部上载置上述标本的方式构成。

根据这种标本检查装置，由于输送部具有连通输送面和与输送面相反的一侧的面的孔部，并以能够在孔部上载置标本的方式构成，所以从太赫兹波产生部射出并透过标本的太赫兹波通过孔部，被太赫兹波检测部检测。即，透过标本并通过孔部的太赫兹波能够被太赫兹波检测部检测，而不被输送部反射、不因输送部引起衰减、多重反射。因此，根据这种标本检查装置，能够在对载置于输送部上的标本照射太赫兹波并检测透过标本的太赫兹波时，减少输送部对透过标本的太赫兹波造成的影响。

在本发明涉及的标本检查装置中，

上述输送面可以具有载置上述标本的凹部，

上述孔部可以连通上述凹部和与上述输送面相反的一侧的面。

根据这种标本检查装置，能够限制标本在输送面上的移动，能够将标本可靠地保持在孔部上。

在本发明涉及的标本检查装置中，

上述孔部的宽度可以比上述标本的宽度小。

根据这种标本检查装置，能够将标本载置在孔部上，而使标本不从孔部落下。

在本发明涉及的标本检查装置中，

上述输送部可以以在1个上述孔部上载置1个上述标本的方式构成。

根据这种标本检查装置，能够容易地获得孔部与载置于该孔部上的标本的对应。因此，能够容易地确定载置于输送面的标本。

在本发明涉及的标本检查装置中，

上述输送部可以以在上述孔部上载置多个上述标本的方式构成。

根据这种标本检查装置，能够在对载置于输送部上的标本照射太赫兹波并检测透过标本的太赫兹波时，减少输送部对透过标本的太赫兹波造成的影响。

在本发明涉及的标本检查装置中，

上述太赫兹波产生部可以具有：

产生光脉冲的光脉冲产生部、和

被照射由上述光脉冲产生部产生的光脉冲的光传导天线。

根据这种标本检查装置，能够在对载置于输送部上的标本照射太赫兹波并检测透过标本的太赫兹波时，减少输送部对透过标本的太赫兹波造成的影响。

在本发明涉及的标本检查装置中，

可以包括气体喷射部，上述气体喷射部通过上述孔部向载置于上述输送面的上述标本喷射气体，使上述标本从上述输送面离开。

根据这种标本检查装置，能够容易地选出含有异物的标本。

在本发明涉及的标本检查装置中，

上述孔部被设置在透过上述输送部的上述标本的太赫兹波通过的区域，

上述太赫兹波检测部检测通过上述孔部的太赫兹波。

根据这种标本检查装置，能够在对载置于输送部上的标本照射太赫兹波并检测透过标本的太赫兹波时，减少输送部对透过标本的太赫兹波造成的影响。

附图说明

图1是示意地表示第1实施方式涉及的标本检查装置的结构的图。

图2是示意地表示第1实施方式涉及的标本检查装置的结构的一部分的图。

图3是从输送面的法线方向观察输送部的示意图。