[发明专利]一种银纳米颗粒辅助两次刻蚀硅微纳米洞减反射织构的制备方法有效
申请号: | 201410081455.0 | 申请日: | 2014-03-06 |
公开(公告)号: | CN103887367A | 公开(公告)日: | 2014-06-25 |
发明(设计)人: | 高斐;武怡;刘生忠;宋飞莺;杨勇州;王皓石;马笑轩 | 申请(专利权)人: | 陕西师范大学 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/0236 |
代理公司: | 西安永生专利代理有限责任公司 61201 | 代理人: | 高雪霞 |
地址: | 710062 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种银纳米颗粒辅助两次刻蚀硅微纳米洞减反射织构的制备方法,先在清洗后的单晶硅片上镀或沉积一层纳米银粒子,通过一次刻蚀制备出具有较大孔洞的硅微纳米减反射织构,然后将硅微纳米孔洞织构在惰性气氛中退火处理,使纳米银粒子在高温下变为较小的球状并进行二次刻蚀,在较大的孔洞内形成较小孔洞的分层结构,之后利用浓硝酸去银,从而实现了对硅表面刻蚀结构的优化,提高了硅片的减反射效果。 | ||
搜索关键词: | 一种 纳米 颗粒 辅助 两次 刻蚀 反射 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种银纳米颗粒辅助两次刻蚀硅微纳米洞减反射织构的制备方法,它由下述步骤组成:(1)清洗单晶硅片表面;(2)在清洗后的单晶硅片表面镀一层纳米银颗粒或沉积一层纳米银颗粒;(3)将镀银或沉积银后的单晶硅片置于刻蚀液中进行第一次刻蚀;(4)将第一次刻蚀后的单晶硅片置于惰性气氛中,300~700℃退火30~90分钟,然后自然冷却至常温;(5)将步骤(4)处理后的单晶硅片置于刻蚀液中进行第二次刻蚀;(6)将第二次刻蚀后的单晶硅片置于硝酸水溶液中超声清洗,得到硅微纳米洞减反射织构;上述的步骤(3)和(5)中,所用的刻蚀液的质量百分比组成为HF5%~20%、H2O210%~25%、其余为去离子水。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于陕西师范大学,未经陕西师范大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410081455.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的