[发明专利]存储器测试方法及装置有效
| 申请号： | 201410078928.1 | 申请日： | 2014-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN103824600B | 公开（公告）日： | 2017-01-04 |
| 发明（设计）人： | 钱亮 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 骆苏华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种存储器测试方法及装置，所述方法包括：以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试，直至遍历所述存储器内所需测试的所有扇区；在所述对各个字节进行测试后，分别判断所述各个字节测试是否通过；若所述存储器内某一字节测试通过，则下一步对该字节的后一个字节进行测试；若所述存储器内某一字节测试未通过，则下一步对该字节所在扇区的后一个扇区的第一个字节进行测试；对所述存储器内测试未通过的扇区进行修复。本发明在以扇区为单位进行修复的情况下，当测试发现扇区内存在某个字节测试未通过时，不再对该扇区内剩余的字节进行测试，测试指针直接跳到下一个扇区的第一个字节，从而避免了不必要的冗余测试，提高了测试效率。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种存储器测试方法，所述存储器包括多个扇区，每个所述扇区分别包括多个字节，其特征在于，所述测试方法包括：以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试，直至遍历所述存储器内所需测试的所有扇区；在所述对各个字节进行测试后，分别判断所述各个字节测试是否通过；若所述存储器内某一字节测试通过，则下一步对该字节的后一个字节进行测试；若所述存储器内某一字节测试未通过，则下一步对该字节所在扇区的后一个扇区的第一个字节进行测试；对所述存储器内测试未通过的扇区进行修复，所述测试未通过的扇区具体是：若某一扇区内包括测试未通过的字节，则该扇区为测试未通过的扇区。
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