[发明专利]存储器测试方法及装置有效
| 申请号： | 201410078928.1 | 申请日： | 2014-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN103824600B | 公开（公告）日： | 2017-01-04 |
| 发明（设计）人： | 钱亮 | 申请（专利权）人： | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/44 | 分类号： | G11C29/44 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 骆苏华 |
| 地址： | 201203 上海市浦东*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 存储器 测试 方法 装置 | ||
1.一种存储器测试方法，所述存储器包括多个扇区，所述每个扇区分别包括多个字节，其特征在于，所述测试方法包括：
以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试，直至遍历所述存储器内所需测试的所有扇区；
在所述对各个字节进行测试后，分别判断所述各个字节测试是否通过；
若所述存储器内某一字节测试通过，则下一步对该字节的后一个字节进行测试；
若所述存储器内某一字节测试未通过，则下一步对该字节所在扇区的后一个扇区的第一个字节进行测试；
对所述存储器内测试未通过的扇区进行修复，所述测试未通过的扇区具体是：若某一扇区内包括测试未通过的字节，则该扇区为测试未通过的扇区。
2.如权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试具体是：以字节为单位，在所述存储器内以扇区为序，在每个扇区内以字节为序对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试。
3.如权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述所需测试的所有扇区为：所述存储器内的所有扇区或所述存储器内nvr阵列中的所有扇区。
4.如权利要求1所述的存储器测试方法，其特征在于，所述存储器测试方法采用内建自测试技术对所述存储器进行测试。
5.一种存储器测试装置，包括：测试模块、判断模块和修复模块，其中：
所述测试模块，用于以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试，直至遍历所述存储器内所需测试的所有扇区；
所述判断模块，用于在所述对各个字节进行测试后，分别判断所述各个字节测试是否通过；
所述测试模块，还用于在所述判断模块执行操作之后，若所述存储器内某一字节测试通过，则下一步对该字节的后一个字节进行测试，若所述存储器内某一字节测试未通过，则下一步对该字节所在扇区的后一个扇区的第一个字节进行测试；
修复模块，用于对所述存储器内测试未通过的扇区进行修复，所述测试未通过的扇区具体是：若某一扇区内包括测试未通过的字节，则该扇区为测试未通过的扇区。
6.如权利要求5所述的存储器测试装置，其特征在于，所述以字节为单位依次对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试具体是：以字节为单位，在所述存储器内以扇区为序，在每个扇区内以字节为序对存储器内每个扇区内的各个字节进行测试。
7.如权利要求5所述的存储器测试装置，其特征在于，所述所需测试的所有扇区为：所述存储器内的所有扇区或所述存储器内nvr阵列中的所有扇区。
8.如权利要求5所述的存储器测试装置，其特征在于，所述存储器测试装置采用内建自测试技术对所述存储器进行测试。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司，未经上海华虹宏力半导体制造有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410078928.1/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
