[发明专利]设备抗辐照加固再设计方法有效
| 申请号： | 201410078309.2 | 申请日： | 2014-03-05 |
| 公开（公告）号： | CN103793583B | 公开（公告）日： | 2017-02-08 |
| 发明（设计）人： | 秦晨飞;魏敬和;刘士全;徐睿;蔡洁明;顾展宏 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第五十八研究所 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 总装工程兵科研一所专利服务中心32002 | 代理人： | 杨立秋 |
| 地址： | 214035 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及抗辐照加固技术领域，尤其是一种设备抗辐照加固再设计方法。包括以下步骤步骤一，对设备进行真实辐照环境下的辐照试验，并判定寄存器各节点是否发生单粒子翻转；步骤二，对设备进行故障仿真，判定只要单粒子发生翻转必定会导致锁存错误的节点；步骤三，对步骤二中所判定的节点确定其临界翻转电流值；步骤四，对步骤二所判定的节点进行选择，选出在真实环境辐照测试中没有发生翻转的节点；步骤五，将步骤四中选择出的节点按其临界翻转电流值进行排序；步骤六，将排序中最小的临界翻转电流值作为设备抗辐照的加固目标。本发明用于设备抗辐照加固技术，大大简化了再设计的难度，节约了设计成本，加快了设计进度。 | ||
| 搜索关键词： | 设备 辐照 加固 设计 方法 | ||
【主权项】：
设备抗辐照加固再设计方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一，对设备进行真实辐照环境下的辐照试验，并判定寄存器各节点是否发生单粒子翻转；步骤二，通过Hspice软件对设备进行故障仿真，通过仿真软件加载双指数电流源，模拟寄存器各节点单粒子翻转情况，并判定只要单粒子发生翻转必定会导致锁存错误的节点；步骤三，对步骤二中所判定的节点确定其临界翻转电流值；步骤四，对步骤二所判定的节点进行选择，选出在真实环境辐照测试中没有发生翻转的节点；步骤五，将步骤四中选择出的节点按其临界翻转电流值进行排序；步骤六，将排序中最小的临界翻转电流值作为设备抗辐照的加固目标。
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