[发明专利]用于对数码显微镜进行测量校准的校准板及其使用方法有效
| 申请号： | 201410074532.X | 申请日： | 2014-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN104897051B | 公开（公告）日： | 2019-01-11 |
| 发明（设计）人： | 李仲禹;王明思;顾海磊 | 申请（专利权）人： | 卡尔蔡司显微镜有限责任公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 万柳军;吴鹏 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及用于对数码显微镜进行测量校准的校准板及其使用方法。所述校准板包括至少一个形成有表面构造的校准区，所述表面构造包括周期性地排布的多个格子单元，其中，每个格子单元的边界的至少一部分和/或顶点的至少一部分能够由所述数码显微镜的光学成像系统识别出。本发明还涉及包括所述校准板的数码显微镜系统。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 数码 显微镜 进行 测量 校准 及其 使用方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于对数码显微镜中在显微镜图像上对标本实施的尺寸测量进行测量校准的校准板，所述校准板包括至少一个形成有表面构造的校准区，所述表面构造包括周期性地排布的多个格子单元，其中，每个格子单元的边界的至少一部分和/或顶点的至少一部分能够由所述数码显微镜的光学成像系统识别出。
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