[发明专利]温度测定装置

摘要

提供一种使用测定对象物的放射光谱高精度地测定温度的温度测定装置。根据实施方式，温度测定装置具有采光单元、提取单元、光强度计算单元以及温度测定单元。采光单元对测定对象物的放射光谱进行采光。提取单元从所述采光单元所采光得到的放射光谱提取具有原子线光谱的波长的光和具有不存在原子线光谱的波长区域中的波长的光。光强度计算单元计算所述提取单元所提取出的各光的强度。温度测定单元基于所述光强度计算单元所计算出的各光的强度计算所述测定对象物的温度。

主权项

一种温度测定装置，使用测定对象物的放射光谱来测定温度，该温度测定装置具备：采光单元，对所述测定对象物的放射光谱进行采光；提取单元，从所述采光单元所采光得到的放射光谱提取具有原子线光谱的波长的光以及具有不存在原子线光谱的波长区域中的波长的光；光强度计算单元，计算所述提取单元所提取出的各光的强度；以及温度测定单元，基于所述光强度计算单元所计算出的各光的强度计算所述测定对象物的温度，所述提取单元提取具有原子线光谱的波长的两个光以及具有不存在原子线光谱的波长区域中的波长的至少一个光，温度测定单元具备：光强度比计算单元，基于所述提取单元所提取出的具有原子线光谱的波长的所述两个光的强度以及所述提取单元所提取出的具有不存在原子线光谱的波长区域中的波长的所述至少一个光的强度，计算所述测定对象物所发出的原子线光谱对的强度比；以及温度计算单元，基于所述光强度比计算单元所计算出的原子线光谱对的强度比计算所述测定对象物的温度，所述光强度比计算单元计算出两个以上的所述测定对象物所发出的原子线光谱对的强度比，所述温度计算单元基于所述光强度比计算单元使用于强度比的计算的原子线光谱对的适当温度测定区域，从所述光强度比计算单元所计算出的两个以上的所述强度比决定为了计算温度而使用的强度比，根据所决定的强度比计算测定对象物的温度。