[发明专利]温度测定装置

权利要求书

1.一种温度测定装置，使用测定对象物的放射光谱来测定温度，该温度测定装置具备：

采光单元，对所述测定对象物的放射光谱进行采光；

提取单元，从所述采光单元所采光得到的放射光谱提取具有原子线光谱的波长的光以及具有不存在原子线光谱的波长区域中的波长的光；

光强度计算单元，计算所述提取单元所提取出的各光的强度；以及

温度测定单元，基于所述光强度计算单元所计算出的各光的强度计算所述测定对象物的温度。

2.根据权利要求1所述的温度测定装置，其特征在于，

所述提取单元提取具有原子线光谱的波长的两个光以及具有不存在原子线光谱的波长区域中的波长的至少一个光，

温度测定单元具备：

光强度比计算单元，基于所述提取单元所提取出的具有原子线光谱的波长的所述两个光的强度以及所述提取单元所提取出的具有不存在原子线光谱的波长区域中的波长的所述至少一个光的强度，计算所述测定对象物所发出的原子线光谱对的强度比；以及

温度计算单元，基于所述光强度比计算单元所计算出的原子线光谱对的强度比计算所述测定对象物的温度。

3.根据权利要求2所述的温度测定装置，其特征在于，

所述提取单元提取具有原子线光谱的波长的三个以上的光，

所述光强度比计算单元计算出两个以上的所述测定对象物所发出的原子线光谱对的强度比，

所述温度计算单元基于所述光强度比计算单元使用于强度比的计算的原子线光谱对的适当温度测定区域，从所述光强度比计算单元所计算出的两个以上的所述强度比决定为了计算温度而使用的强度比，根据所决定的强度比计算测定对象物的温度。

4.根据权利要求3所述的温度测定装置，其特征在于，

所述温度计算单元将在适当温度测定区域包含所述测定对象物的温度的原子线光谱对的强度比设为用于计算所述测定对象物的温度的强度比。

5.根据权利要求2所述的温度测定装置，其特征在于，

所述光强度比计算单元通过计算从具有原子线光谱的波长的两个光的强度分别减去不存在原子线光谱的波长区域中的光的强度所得的两个值的比，来计算原子线光谱的强度比。

6.根据权利要求1所述的温度测定装置，其特征在于，

所述测定对象物是使用了包含铜的电极的、在包含六氟化硫的气体中起弧的电弧等离子体，

原子线光谱的所述波长是493nm、500nm、502nm、504nm、507nm、511nm、515nm、518nm、522nm、540nm、548nm、553nm、561nm、565nm、567nm、571nm、579nm、586nm、625nm、636nm、642nm、657nm、658nm、677nm、688nm、684nm、686nm、689nm、691nm、705nm、714nm、721nm、732nm、734nm、741nm、743nm、744nm、749nm、750nm、755nm、757nm、776nm、781nm中的任意波长。

7.根据权利要求1所述的温度测定装置，其特征在于，

所述测定对象物是使用了包含铜的电极的、在包含二氧化碳的气体中起弧的电弧等离子体，

原子线光谱的所述波长是493nm、502nm、504nm、507nm、511nm、515nm、522nm、561nm、579nm、741nm、743nm中的任意波长。

8.根据权利要求1所述的温度测定装置，其特征在于，

所述采光单元还具备采光限定单元，该采光限定单元限定对所述测定对象物的放射光谱进行采光的范围。

9.根据权利要求8所述的温度测定装置，其特征在于，

所述采光限定单元是上下开口的筒型，内侧表面被镜面加工，在侧面具备用于固定于所述采光单元的安装口，

所述采光单元通过连接于所述安装口而固定所述采光限定单元，对流入所述采光限定单元的内部的测定对象物的放射光谱进行采光。