[发明专利]用于半导体封装的银合金焊接导线有效
申请号: | 201410040467.9 | 申请日: | 2014-01-27 |
公开(公告)号: | CN103985687B | 公开(公告)日: | 2018-04-06 |
发明(设计)人: | 黄威智;洪子翔;彭政展;郑惠文 | 申请(专利权)人: | 光洋应用材料科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/49 | 分类号: | H01L23/49;H01B1/02 |
代理公司: | 上海一平知识产权代理有限公司31266 | 代理人: | 须一平 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | 一种用于半导体封装的银合金焊接导线,包含一银合金组份,包括银、钯,及一第一添加剂,基于该银合金组份的重量百分比以100wt%计,钯的重量百分比大于0且不大于2wt%,该第一添加剂的重量百分比不小于0.001wt%,且不大于2wt%,该第一添加剂选自铟、锡、钪、铋、锑、锰、锌,及其中一组合。本发明通过预定比例的钯及该第一添加剂,进而有效提升经引线键合后银合金焊接导线所形成弧形的稳定度,且不易倾倒。 | ||
搜索关键词: | 用于 半导体 封装 合金 焊接 导线 | ||
【主权项】:
一种用于半导体封装的银合金焊接导线,其特征在于:该银合金焊接导线不含金,包含一银合金组份,该银合金组份包括银、钯,及一第一添加剂,基于该银合金组份的重量百分比为100wt%计,钯的重量百分比大于0且不大于2wt%,该第一添加剂的重量百分比不小于0.001wt%,且不大于2wt%,该第一添加剂选自铟、钪、锑、铋、锰、锌,及其中一组合。
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