[发明专利]单层二硫化钼薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 201410027158.8 申请日: 2014-01-13
公开(公告)号: CN103757602B 公开(公告)日: 2017-02-15
发明(设计)人: 吴华强;袁硕果;李寒;钱鹤 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: C23C16/30 分类号: C23C16/30;C23C16/52;C23C16/455
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 代理人: 张大威
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种单层二硫化钼薄膜的制备方法,可以包括以下步骤提供硫粉并加热转变为硫蒸气;利用载气将硫蒸气吹入置有衬底和三氧化钼粉末的反应腔;将反应腔的温度加热到第一预设温度并保持第一预设时间,以使三氧化钼粉末与硫蒸气反应生成气态的MoO3‑x并沉积到衬底上,其中0<x≤1;将反应腔的温度加热到第二预设温度并保持第二预设时间,继续通入硫蒸气,以使硫蒸气与MoO3‑x反应,在衬底表面形成单层二硫化钼薄膜,其中,第一预设温度小于第二预设温度。本发明能够通过两步反应法能够获得大面积、层数可控的单层二硫化钼薄膜。
搜索关键词: 单层 二硫化钼 薄膜 制备 方法
【主权项】:
一种单层二硫化钼薄膜的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:提供硫粉并加热转变为硫蒸气;利用载气将所述硫蒸气吹入置有衬底和三氧化钼粉末的反应腔;将所述反应腔的温度加热到第一预设温度并保持第一预设时间,以使所述三氧化钼粉末与所述硫蒸气反应生成气态的MoO3‑x并沉积到所述衬底上,其中0<x≤1;将所述反应腔的温度加热到第二预设温度并保持第二预设时间,继续通入硫蒸气,以使所述硫蒸气与所述MoO3‑x反应,在所述衬底表面形成单层二硫化钼薄膜,其中,所述第一预设温度小于所述第二预设温度,所述硫粉所在位置与所述三氧化钼粉末所在位置的距离为5‑30cm。
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