[发明专利]叠片电芯的阴阳极膜片错位检测方法

摘要

本发明公开了一种叠片电芯的阴阳极膜片错位检测方法，其包括以下步骤1)通过两次互余的X‑Ray光照射，利用入射角α及两次照射测得的错位数值D1和D2，计算出阴阳极膜片角位A处的错位长度L和错位宽度W；2)利用同样方法测量待检测电芯角位B处的阴阳极膜片错位长度L’和错位宽度W’；3)将测得的L、W、L’、W’和规定的阴阳极膜片错位规格进行比较，判定待检测电芯是否为合格品。本发明采用双入射角和双角位的检测方法对叠片电芯的阴阳极膜片错位距离进行检测，有效避免了现有单一角度检测方法易于出现的错位不良电芯误判以及由误判导致的安全隐患，从而降低了成品电池因阴阳极膜片错位不足引起的安全风险。

主权项

一种叠片电芯的阴阳极膜片错位检测方法，其特征在于，包括以下步骤：1)测量待检测电芯角位A处的阴阳极膜片错位距离：利用平行于阴阳极膜片的X‑Ray光对叠片电芯的角位A进行两次照射，要求两次照射的入射角α和β互余，并分别测量出两次照射的叠片电芯阴阳极膜片错位数值D1和D2，利用α、β、D1和D2计算出阴阳极膜片角位A处的错位长度L和错位宽度W；2)利用同样方法测量待检测电芯角位B处的阴阳极膜片错位长度L’和错位宽度W’；3)将测得的L、W、L’、W’和规定的阴阳极膜片错位规格进行比较：当L、L’、W、W’均在错位规格范围内时，待检测电芯被判定为合格品；当L、L’、W、W’中的一个或多个不在错位规格范围内时，待检测电芯被判定为不良品。