[发明专利]叠片电芯的阴阳极膜片错位检测方法

权利要求书

1.一种叠片电芯的阴阳极膜片错位检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)测量待检测电芯角位A处的阴阳极膜片错位距离：利用平行于阴阳极膜片的X-Ray光对叠片电芯的角位A进行两次照射，要求两次照射的入射角α和β互余，并分别测量出两次照射的叠片电芯阴阳极膜片错位数值D1和D2，利用α、β、D1和D2计算出阴阳极膜片角位A处的错位长度L和错位宽度W；

2)利用同样方法测量待检测电芯角位B处的阴阳极膜片错位长度L’和错位宽度W’；

3)将测得的L、W、L’、W’和规定的阴阳极膜片错位规格进行比较：当L、L’、W、W’均在错位规格范围内时，待检测电芯被判定为合格品；当L、L’、W、W’中的一个或多个不在错位规格范围内时，待检测电芯被判定为不良品。

2.根据权利要求1所述的叠片电芯的阴阳极膜片错位检测方法，其特征在于，所述阳极膜片的长度和宽度均大于阴极膜片的长度和宽度，阴阳极膜片错位长度L、L’和宽度W、W’是指阳极膜片的长度和宽度超出阴极膜片的距离。

3.根据权利要求1所述的叠片电芯的阴阳极膜片错位检测方法，其特征在于，所述步骤3)的阴阳极膜片错位规格为阳极膜片的长度和宽度均超出阴极膜片1-10mm。

4.根据权利要求1、2或3所述的叠片电芯的阴阳极膜片错位检测方法，其特征在于，所述步骤1)、2)中角位A、B的错位长度L、L’和宽度W、W’是利用计算机软件通过公式W=(D2*sinα-D1*cosα)/(sin²α-cos²α)和L=(D2*cosα-D1*sinα)/(cos²α-sin²α)进行计算并直接输出结果的。

5.根据权利要求1、2或3所述的叠片电芯的阴阳极膜片错位检测方法，其特征在于，当待检测电芯为多层叠片电芯时，步骤1)和2)均需要对各层电芯的阴阳极膜片错位长度L、L’和宽度W、W’进行分别计算；只有当各层电芯的阴阳极膜片错位长度L、L’和宽度W、W’均在错位规格范围内时，待检测电芯才能被判定为合格品。

6.根据权利要求1、2或3所述的叠片电芯的阴阳极膜片错位检测方法，其特征在于，所述步骤1)、2)中的检测是将待检测电芯固定在夹具上放入X-Ray检测设备内进行的。

7.根据权利要求1、2或3所述的叠片电芯的阴阳极膜片错位检测方法，其特征在于，所述待检测电芯的角位A和角位B为相邻角位。