[发明专利]校正光谱仪的强度偏差的方法及设备有效
| 申请号： | 201380076163.1 | 申请日： | 2013-06-04 |
| 公开（公告）号： | CN105164513B | 公开（公告）日： | 2018-02-02 |
| 发明（设计）人： | 佩尔·瓦本·汉森 | 申请（专利权）人： | 福斯分析股份公司 |
| 主分类号： | G01N21/27 | 分类号： | G01N21/27;G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司11262 | 代理人： | 胡秋玲,郑霞 |
| 地址： | 丹麦希*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种确定一个样品(610)的一个路径长度偏差的方法，该方法包括将该样品(610)暴露到多个波数下的电磁辐射，确定在该多个波数下该样品(610)中的电磁吸收，确定与一个吸收谱带的一个第一吸收水平相关联的一个第一波数及与该吸收谱带的一个第二吸收水平相关联的一个第二波数，其中该第二波数不同于该第一波数，确定该第一波数与该第二波数之间的一个差，以及基于该差确定该路径长度偏差。 | ||
| 搜索关键词： | 校正 光谱仪 强度 偏差 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种确定一个样品(610)的一个路径长度偏差的方法，该方法包括：将该样品(610)暴露到多个波数下的电磁辐射(710)，确定暴露在该多个波数下的电磁辐射中的该样品(610)中的电磁吸收(720)，确定与一个吸收谱带的一个第一吸收水平相关联的一个第一波数及与该吸收谱带的一个第二吸收水平相关联的一个第二波数，其中该第一吸收水平与该第二吸收水平相同并且该第二波数不同于该第一波数(750)，确定该第一波数与该第二波数之间的一个差(D)(760)，以及假设该路径长度偏差(d)与该差(D)之间的一个线性关系，基于所确定的该差(D)确定该路径长度偏差(d)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福斯分析股份公司，未经福斯分析股份公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201380076163.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于待测溶液中的有机物的分析方法
- 下一篇：综合测试机
