[发明专利]校正光谱仪的强度偏差的方法及设备

权利要求书

1.一种确定一个样品(610)的一个路径长度偏差的方法，该方法包括：

将该样品(610)暴露到多个波数下的电磁辐射(710)，

确定暴露在该多个波数下的电磁辐射中的该样品(610)中的电磁吸收(720)，

确定与一个吸收谱带的一个第一吸收水平相关联的一个第一波数及与该吸收谱带的一个第二吸收水平相关联的一个第二波数，其中该第一吸收水平与该第二吸收水平相同并且该第二波数不同于该第一波数(750)，

确定该第一波数与该第二波数之间的一个差(D)(760)，以及

假设该路径长度偏差(d)与该差(D)之间的一个线性关系，基于所确定的该差(D)确定该路径长度偏差(d)。

2.根据权利要求1所述的方法，其中该电磁辐射为红外辐射。

3.根据权利要求1所述的方法，其中通过傅里叶变换光谱法确定该电磁吸收。

4.根据权利要求2所述的方法，其中通过傅里叶变换光谱法确定该电磁吸收。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其中该第一波数与该第二波数对应于水的一个电磁辐射吸收谱带的斜率上的位置。

6.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，进一步包括：

通过至少确定与一个第三吸收水平相关联的一个第三波数及与一个第四吸收水平相关联的一个第四波数来估计一个背景光谱。

7.根据权利要求5所述的方法，进一步包括：

通过至少确定与一个第三吸收水平相关联的一个第三波数及与一个第四吸收水平相关联的一个第四波数来估计一个背景光谱。

8.根据权利要求6所述的方法，其中所述估计包括以下动作：使用所确定的至少第三波数及第四波数以及该第三吸收水平及该第四吸收水平来将该背景光谱表达为一个N阶多项式。

9.根据权利要求7所述的方法，其中所述估计包括以下动作：使用所确定的至少第三波数及第四波数以及该第三吸收水平及该第四吸收水平来将该背景光谱表达为一个N阶多项式。

10.根据权利要求8所述的方法，其中该多项式的该阶N为2。

11.根据权利要求9所述的方法，其中该多项式的该阶N为2。

12.根据权利要求1-4和7-11中任一项所述的方法，其中将所确定的该路径长度偏差(d)用于检测该样品中的空气。

13.根据权利要求5所述的方法，其中将所确定的该路径长度偏差(d)用于检测该样品中的空气。

14.根据权利要求6所述的方法，其中将所确定的该路径长度偏差(d)用于检测该样品中的空气。

15.根据权利要求1-4和7-11中任一项所述的方法，其中所确定的该路径长度偏差为通过所确定的该差(D)除以该差的一个标称值(D_标称)所给出的一个商；并且其中该方法包括取决于该商确定一个强度校正因数(Q)以应用于强度光谱来校正路径长度改变的一个额外步骤。

16.根据权利要求5所述的方法，其中所确定的该路径长度偏差为通过所确定的该差(D)除以该差的一个标称值(D_标称)所给出的一个商；并且其中该方法包括取决于该商确定一个强度校正因数(Q)以应用于强度光谱来校正路径长度改变的一个额外步骤。

17.根据权利要求6所述的方法，其中所确定的该路径长度偏差为通过所确定的该差(D)除以该差的一个标称值(D_标称)所给出的一个商；并且其中该方法包括取决于该商确定一个强度校正因数(Q)以应用于强度光谱来校正路径长度改变的一个额外步骤。