[发明专利]电化学沉积和x射线荧光光谱测定在审
| 申请号： | 201380052430.1 | 申请日： | 2013-08-09 |
| 公开（公告）号： | CN104884946A | 公开（公告）日： | 2015-09-02 |
| 发明（设计）人： | M·E·牛顿;J·V·麦克弗森;T·P·莫拉特 | 申请（专利权）人： | 六号元素技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N27/42;G01N27/48;G01N27/30;G01N27/49 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 申发振 |
| 地址： | 英国*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 一种x射线荧光光谱仪(52)；和用于x射线荧光(XRF)光谱仪(52)的样本支架(2)，其中，样本支架(2)包括：提供正表面(6)的导电合成金刚石电极(4)，化学物类能够被从包括化学物类的溶液(48)中电沉积到正表面(6)上；设置在导电合成金刚石电极(4)的背面上的欧姆接触(8)；以及连接至欧姆接触(8)的电连接器(10)，并且其中x射线荧光光谱仪(52)包括：被配置为容纳样本支架(2)的XRF样本台(58)；被配置为在样本支架(2)被安装到XRF样本台(58)上时将x射线激励射束施加至电沉积在导电合成金刚石电极(4)上的化学物类的x射线源(54)；被配置为在样本支架(2)被安装到XRF样本台(58)时接收电沉积在导电合成金刚石材料的正表面(6)上的化学物类发射的x射线的x射线探测器(60)；以及被配置为基于x射线探测器接收到的x射线生成x射线荧光光谱数据的处理器(62)。这种系统允许同时并且就地进行溶出伏安法测量以及X射线荧光测量。 | ||
| 搜索关键词： | 电化学 沉积 射线 荧光 光谱 测定 | ||
【主权项】：
一种系统，包括：X射线荧光光谱仪；以及用于所述x射线荧光(XRF)光谱仪的样本支架，其中，所述样本支架包括：提供正表面的导电合成金刚石电极，化学物类能够被从包括所述化学物类的溶液中电沉积到所述正表面上；设置在所述导电合成金刚石电极的背面上的欧姆接触；以及连接至所述欧姆接触的电连接器，并且其中，所述x射线荧光光谱仪包括：XRF样本台，其被配置为容纳所述样本支架；x射线源，其被配置为在所述样本支架被安装到所述XRF样本台上时将x射线激励射束施加至电沉积在所述导电合成金刚石电极上的所述化学物类；x射线探测器，其被配置为在所述样本支架被安装到所述XRF样本台时接收由电沉积在所述导电合成金刚石材料的所述正表面上的所述化学物类发射的x射线；以及处理器，被配置为基于由所述x射线探测器接收到的所述x射线生成x射线荧光光谱数据。
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