[发明专利]使用波长偏移光纤耦合闪烁检测器进行X射线检查有效
申请号: | 201380016922.5 | 申请日: | 2013-02-04 |
公开(公告)号: | CN104204854B | 公开(公告)日: | 2017-05-10 |
发明(设计)人: | A.阿罗德泽罗;J.卡勒拉梅;D-C.丁卡;R.苏德;L.格洛德津斯;M.罗梅尔;P.罗斯希尔德;J.舒伯特 | 申请(专利权)人: | 美国科技工程公司 |
主分类号: | G01T1/20 | 分类号: | G01T1/20;G01V5/00 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人: | 高巍 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供了一种在通过将波长偏移光纤耦接到一个或多个光电检测器的闪烁体的基础上,通过对光电检测器信号的时间整合,来检查材料的检测器和方法。闪烁介质的非像素化空间将入射的穿透辐射的能量转换成闪烁光,该闪烁光是从闪烁光发出区域由多个光波导发出的。这种几何形状提供了高效且体积小的检测器,实现了以往无法实现的用于对入射辐射进行反向散射检测和能量辨别的几何形状。可使用额外的能量分辨传输配置并可作为倾斜和失准的补偿。 | ||
搜索关键词: | 使用 波长 偏移 光纤 耦合 闪烁 检测器 进行 射线 检查 | ||
【主权项】:
一种x射线检测器,其特征在于厚度和面积,所述x射线检测器包括:a.第一闪烁体介质的第一空间,用于将入射的x射线辐射的能量转换成第一闪烁光;b.第一多个波长偏移光波导,其被基本上准直成在与所述第一闪烁体介质的所述第一空间连续的第一闪烁光吸收区域上彼此平行,以引导源自所述第一闪烁光且处于比所述第一闪烁光的波长更长的波长上的光;c.第二闪烁体介质的第二空间,用于将已经经过第一空间的入射穿透辐射的能量转换成第二闪烁光;d.第二多个波长偏移光波导,其被基本上准直成在与所述第二闪烁体介质的所述第二空间连续的第二闪烁光吸收区域上彼此平行,以引导源自所述第二闪烁光且处于比所述第二闪烁光的波长更长的波长上的光;e.第一光电检测器,用于检测通过所述第一多个波长偏移光波导引导的处于第一波长上的光子,并用于生成第一检测器信号;f.第二光电检测器,用于检测通过所述第二多个波长偏移光波导引导的处于第二波长上的光子,并用于生成指示入射的x射线通量的第二检测器信号。
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