[发明专利]使用波长偏移光纤耦合闪烁检测器进行X射线检查

权利要求书

1.一种x射线检测器，其特征在于厚度和面积，所述x射线检测器包括：

a.第一闪烁体介质的第一空间，用于将入射的x射线辐射的能量转换成第一闪烁光；

b.第一多个波长偏移光波导，其被基本上准直成在与所述第一闪烁体介质的所述第一空间连续的第一闪烁光吸收区域上彼此平行，以引导源自所述第一闪烁光且处于比所述第一闪烁光的波长更长的波长上的光；

c.第二闪烁体介质的第二空间，用于将已经经过第一空间的入射穿透辐射的能量转换成第二闪烁光；

d.第二多个波长偏移光波导，其被基本上准直成在与所述第二闪烁体介质的所述第二空间连续的第二闪烁光吸收区域上彼此平行，以引导源自所述第二闪烁光且处于比所述第二闪烁光的波长更长的波长上的光；

e.第一光电检测器，用于检测通过所述第一多个波长偏移光波导引导的处于第一波长上的光子，并用于生成第一检测器信号；

f.第二光电检测器，用于检测通过所述第二多个波长偏移光波导引导的处于第二波长上的光子，并用于生成指示入射的x射线通量的第二检测器信号。

2.如权利要求1所述的x射线检测器，进一步包括用于在特定时间段期间将所述第一检测器信号和第二检测器信号进行积分的积分电路。

3.如权利要求1所述的x射线检测器，其中，所述闪烁体介质包括氟氯化钡。

4.如权利要求1所述的x射线检测器，其中，所述光电检测器包括光电倍增器。

5.如权利要求1所述的x射线检测器，其中，所述检测器厚度的平方除以所述检测器的面积的结果小于0.001。

6.如权利要求1所述的x射线检测器，其中，所述多个波长偏移光波导中的至少一个是缺少包层的光纤，且所述闪烁体介质的特征在于，折射率值低于所述光纤的折射率。

7.如权利要求1所述的x射线检测器，其中，所述多个波长偏移光波导被部署在多个平行平面上，所述平行平面中的每一个包括所述多个波长偏移光波导的子集。

8.如权利要求1所述的x射线检测器，其中，所述第一闪烁体介质和所述第二闪烁体介质的特征在于对于所述入射射束的不同的光谱灵敏度。

9.如权利要求1所述的x射线检测器，其中，备选的闪烁体层包括替换光纤耦合BaFCl(Eu)和光纤耦合BaFI(Eu)中的至少一个的Li⁶F:ZnS(Ag)。

10.如权利要求1所述的x射线检测器，其中，所述第一闪烁体介质中的第一空间为波长偏移光纤耦合检测器，其优先对低能量x射线敏感，并且所述第二闪烁体介质中的第二空间为塑料闪烁体。

11.如权利要求1所述的x射线检测器，进一步包括所述闪烁体介质的多个分段，其被部署在横向于入射射束的传播方向的平面上。

12.如权利要求11所述的x射线检测器，其中，所述闪烁体介质的多个分段经由光纤分别耦接至光电检测器。